Mikroskop elektron penghantaran adalah alat yang sangat berkuasa untuk sains bahan. Rasuk elektron bertenaga tinggi melalui sampel yang sangat nipis dan interaksi antara elektron dan atom digunakan untuk memerhati sifat seperti struktur kristal dan sifat seperti kehelan dan sempadan butiran dalam struktur. Analisis kimia juga boleh dilakukan dengan kaedah ini.
TEM (mikroskopi elektron penghantaran) ialah kaedah analisis yang digunakan untuk memeriksa pertumbuhan lapisan, komposisi dan kecacatan dalam semikonduktor. Resolusi tinggi digunakan untuk menganalisis kualiti, bentuk, saiz dan ketumpatan bahan.
Analisis mikroskop elektron penghantaran TEM berfungsi pada prinsip asas yang sama seperti mikroskop cahaya, tetapi menggunakan elektron dan bukannya cahaya. Oleh kerana panjang gelombang elektron jauh lebih kecil daripada panjang gelombang cahaya, resolusi optimum yang dicapai untuk imej analisis ini adalah susunan magnitud yang lebih baik daripada mikroskop cahaya. Oleh itu, kaedah analisis ini boleh mendedahkan butiran terkecil struktur dalaman, dalam beberapa kes sekecil atom individu.
Semasa proses pengimejan, pancaran elektron daripada senapang elektron difokuskan kepada pancaran kecil, nipis, koheren menggunakan kanta pemeluwap. Rasuk ini dihadkan oleh apertur pemeluwap, yang tidak termasuk elektron sudut tinggi. Rasuk kemudiannya mengenai sampel dan menghantar serpihan bergantung pada ketebalan dan ketelusan elektron sampel. Bahagian yang dihantar ini difokuskan oleh kanta objektif pada imej pada skrin fosfor atau kamera peranti yang disambungkan dengan cas. Bukaan kanta pilihan digunakan untuk meningkatkan kontras dengan menyekat elektron pembelauan sudut tinggi. Imej itu kemudiannya dibesarkan sepenuhnya. Imej menyentuh skrin fosfor dan cahaya dihasilkan, membolehkan pengguna melihat imej. Kawasan imej yang lebih gelap mewakili kawasan sampel yang kurang elektron dihantar, manakala kawasan imej yang lebih cerah mewakili kawasan sampel yang lebih banyak elektron dihantar.
Sampel ujian mestilah cukup nipis untuk menghantar elektron yang cukup untuk membentuk imej dengan kehilangan tenaga yang minimum. Oleh itu, penyediaan sampel merupakan aspek penting dalam proses analisis TEM.
Organisasi kami juga menyediakan perkhidmatan analisis mikroskop elektron penghantaran TEM dengan kakitangan terlatih dan pakar serta peralatan teknologi termaju, antara pelbagai ujian, pengukuran, analisis dan kajian penilaian yang disediakan untuk perniagaan dalam pelbagai sektor.
Anda boleh meminta kami mengisi borang kami untuk mendapatkan temujanji, mendapatkan maklumat terperinci atau meminta penilaian.
