MIL-STD-883F Método de prueba de la división de defensa Estándar: microcircuitos, estándares de prueba

MIL-STD-883F Método de prueba de la división de defensa Estándar: microcircuitos, estándares de prueba

MIL-STD-883F, un estándar de defensa militar de los Estados Unidos, proporciona pruebas ambientales básicas, pruebas mecánicas y eléctricas, procedimientos laborales y de capacitación para determinar la resistencia a los efectos nocivos de los elementos naturales y las condiciones que rodean las operaciones militares y espaciales, y es el único uno adecuado para las aplicaciones previstas de estos dispositivos. Se describen otros controles y restricciones que se consideren necesarios para garantizar dicho nivel de calidad y fiabilidad.

MIL-STD-883F Método de prueba de la división de defensa Estándar: microcircuitos, estándares de prueba

Para los propósitos de esta norma, el término dispositivos incluye elementos tales como microcircuitos monolíticos, de múltiples chips, de película e híbridos, matrices de microcircuitos y elementos a partir de los cuales se construyen circuitos y matrices. Esta norma está destinada a aplicarse solo a dispositivos microelectrónicos.

El propósito principal de los métodos de prueba, controles y procedimientos descritos en esta norma es servir:

  • Determinar las condiciones apropiadas que se pueden obtener a nivel de laboratorio y dispositivo, lo que da resultados de prueba similares a las condiciones de servicio reales disponibles en el campo, y obtener la reproducibilidad de los resultados de la prueba. Las pruebas descritas aquí sonNo debe interpretarse como una representación precisa de la operación real del servicio en ninguna ubicación geográfica o del espacio ultraterrestre, ya que se sabe que la única prueba verdadera para el funcionamiento en una aplicación y ubicación determinadas es una prueba de servicio real en las mismas condiciones.
  • Describir en un solo estándar todos los métodos de prueba de carácter similar que aparecen actualmente en varios servicios conjuntos y estándares de dispositivos microelectrónicos de la NASA. Por lo tanto, estos métodos se mantienen uniformes y dan como resultado la protección del equipo, las horas de trabajo y las instalaciones de prueba. Para lograr este objetivo, cada una de las pruebas generales debe adaptarse a una amplia gama de dispositivos.
  • Para garantizar un nivel de uniformidad en las pruebas físicas, eléctricas y ambientales, los controles de fabricación y la mano de obra y los materiales para garantizar una calidad y confiabilidad consistentes en todos los dispositivos escaneados de acuerdo con este estándar.

Las pruebas realizadas según este estándar se dividen en cuatro clases:

  • Pruebas ambientales
  • Pruebas mecanicas
  • Pruebas electricas
  • Procedimientos de prueba

Entre los numerosos estudios de prueba, medición, análisis y evaluación que ofrece a empresas de diversos sectores, nuestra organización también ofrece servicios de prueba de microcircuitos con fines militares dentro del alcance del estándar MIL-STD-883F, con su personal capacitado y experto y equipo tecnológico avanzado. .

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