SMC-S-010 Tekniska krav för elektroniska komponenter, material och processer som används i rymdfarkoster

"Publicerad av U.S. Air Force Space Commands Space and Missile Systems Center (SMC),Standarden SMC-S-010 Tekniska krav för elektroniska komponenter, material och processer som används i rymdfarkoster beskriver de tekniska minimikraven för elektroniska komponenter, material och processer som används vid design, utveckling och tillverkning av rymdfarkoster. Denna standard omfattar tillämpningsinformation, design- och konstruktionsinformation samt bestämmelser för kvalitetssäkring. Alla elektroniska komponenter, material och processer som väljs ut för användning i rymdfarkoster måste uppfylla de krav som anges här, om inte annat godkänts av programmet. Dessa krav kan uppfyllas av entreprenören eller underentreprenörer. Huvudentreprenören är dock ansvarig för att alla krav uppfylls.

Denna standard innehåller väsentliga prestandakrav för elektroniska komponenter, material och processer, samt de kvalitets- och tillförlitlighetskrav som måste uppfyllas för deras anskaffning. Detaljerade krav, specifika egenskaper hos elektroniska komponenter, material och processer, samt andra bestämmelser som är känsliga för den specifika avsedda användningen, specificeras i enhetens specifikation.

De kvalitetssäkringskrav som beskrivs här gäller för alla elektroniska komponenter, material och processer som tillverkas eller utförs på en produktionslinje som kontrolleras genom en tillverkares kvalitetsledning. Olika nivåer av produktgaranti anges i denna specifikation, inklusive garanti för strålningshårdhet.

Vid konflikt mellan texten i denna standard och de referenser som citeras häri (exklusive enhetsspecifikationer), har texten i denna standard företräde. Ingenting i denna standard ersätter dock tillämpliga lagar och förordningar om inte ett specifikt undantag erhålls.

Denna standard är utformad för användning vid anskaffning av rymdfarkoster. Denna standard måste refereras i affärsavtalet och kan anpassas av inköpsverksamheten för den specifika applikationen eller programmet.

Implementeringen av kraven i denna standard och dess ändringar eller modifieringar utförs i enlighet med "TOR-2006(8583)-5235 Program för kontroll av delar, material och processer för rymdfarkoster", bestämmelserna och befogenheterna för hantering av elektroniska delar, material och processer samt programmets krav.

Tillämpningskraven i denna standard specificeras enligt följande:

• Elektrisk klassificering. Kretsar måste konstrueras och godkännas med delar klassade enligt specifikationerna häri eller åtminstone en motsvarande klassificeringsplan som tekniskt motiveras genom delspänningsanalys och värsta tänkbara fall-analys, och måste stödja den erforderliga arbetscykeln. Graden till vilken elektrisk belastning (till exempel spänning, ström eller effekt) klassas beror på temperaturen. Det allmänna sambandet mellan elektrisk spänning och temperatur visas i figuren som ges i standarden. Godkända flygförhållanden är belägna i området under den nominella begränsningslinjen. Värsta tänkbara tänkbara gränsvärden gäller även för flygförhållanden.
• Livets slut. Kretsar bör utformas så att den erforderliga funktionella prestandan på komponentnivå bibehålls även om prestandavärdena för de använda delarna ändras inom de gränser för slutanvändning som anges av programmet.
• Känslighet för åldrande. Elektroniska, optiska och mekaniska delar och material är känsliga för åldring, vilket innebär att de gradvis förkortar sin livslängd eller försämrar sina prestandaparametrar. Åldrandemekanismer inkluderar:
  • Förlust av hermetisk täthet
  • Stressavslappning
  • Oxidation och korrosion
  • Gasutsläpp
  • Kallflöde och krypning
  • Molekylär tvärbindning
  • Förlust av vidhäftning
  • Sprödhet (inklusive termisk) och härdning
  • Momentförlust
  • Förlust av fjäderspänning
  • Fuktabsorption
  • Strålningseffekter

Känslighet för åldring måste beaktas vid design, val och tillämpning av delar och material. Dessutom bör åldringskänslighet inkluderas i obligatoriska planer för hållbarhet och åldringskontroll. Dessa planer bör innehålla minimikrav för hållbarhetsgaranti när delar och material anskaffas och eventuell nödvändig omverifiering eller omtestning av delar och material efter att hållbarhetstiden har överskridits. Alla delar och material måste uppfylla kraven i TOR 2006(8583)-5235-standarden för hållbarhetskontroll.

• Förseglade paket. För användning i rymdfarkoster föredras hermetiskt förseglade delar. Om icke-hermetiskt förseglade delar väljs, får monterings- och rengöringsprocesserna som används under processen inte skada delarna, och efterföljande utgasning, sublimering, fuktinträngning eller fuktabsorption får inte skada delen och dess långsiktiga prestanda eller systemet.
• Registrerade (tveksamma) elektroniska delar, material och processer och förbjudna elektroniska delar, material och processer. Detaljerade avsnitt i denna standard identifierar kända registrerade elektroniska delar, material och processer samt förbjudna elektroniska delar, material och processer, inklusive tillämpningar och leveransrestriktioner.
• Hantering. Skydd mot elektrostatisk skada på elektrostatiskt känsliga enheter tillhandahålls i enlighet med denna standard.
• Märkning. Märkning måste uppfylla tillämpliga militära specifikationer.
• Krav på utgasning. När det krävs enligt planen för kontamineringskontroll bör alla polymera och organiska material testas för avgasning i enlighet med ASTM-E-595 och resultaten dokumenteras i den godkända listan över design- och konstruktionsmaterial. Som riktlinje bör materialen uppvisa högst 1,0 procent total massförlust och högst 0,1 procent insamlat flyktigt kondenserbart material. Data som anges i NASA:s referenspublikation 1124 eller på NASA:s webbplats för "Outgassing Data for Selecting Spacecraft Materials Online" kan användas för tillämpliga material istället för faktiska tester. Avgasningsdata måste motsvara ett tillstånd/härdningscykel för att kunna användas.
• Alternativ plan för kvalitetsöverensstämmelsegranskning/provtagning. Den alternativa planen för kvalitetskontroll, provning/provtagning av homogena partier som definieras av den tillämpliga MIL-standarden för mikrokretsar, diskreta dioder och transistorer ska överensstämma med bilagan till denna standard (bilaga C).

Vår organisation, som i åratal har försökt stödja företag från alla sektorer med ett brett utbud av test-, mät-, analys- och utvärderingsstudier, har en stark personalstyrka som noggrant följer utvecklingen i världen inom vetenskap och teknik och ständigt förbättrar sig. I detta sammanhang tillhandahålls även testtjänster till företag i enlighet med standarden ”SMC-S-010 Tekniska krav för elektroniska delar, material och processer som används i rymdfarkoster”.