Phân tích XPS (Loại nguyên tố và Số oxy hóa)

XPS là từ viết tắt có nguồn gốc từ quang phổ quang điện tử tia X, viết tắt của từ vựng quang phổ quang điện tử tia X. Với phương pháp này, phân tích bề mặt XPS của các vật liệu từ kim loại đến polyme được thực hiện.

Khi nhu cầu về vật liệu hiệu suất cao tăng lên, tầm quan trọng của kỹ thuật bề mặt cũng vậy. Bề mặt của vật liệu là điểm tương tác với môi trường bên ngoài và các vật liệu khác và ảnh hưởng đến các yếu tố như tốc độ ăn mòn, hoạt tính xúc tác, tính chất kết dính, khả năng thấm ướt, khả năng tiếp xúc và cơ chế hỏng hóc. Sửa đổi bề mặt được sử dụng để thay đổi hoặc cải thiện các đặc tính này. Phân tích bề mặt được sử dụng để hiểu hóa học bề mặt và cải thiện hiệu quả của kỹ thuật bề mặt. Từ lớp phủ chống dính dụng cụ nấu ăn đến thiết bị điện tử màng mỏng và bề mặt hoạt tính sinh học, quang phổ quang điện tử tia X (XPS) là một trong những công cụ tiêu chuẩn để xác định đặc tính bề mặt.

Quang phổ quang điện tử tia X (XPS), còn được gọi là quang phổ điện tử để phân tích hóa học, là một kỹ thuật phân tích hóa học bề mặt của vật liệu. Với phương pháp này, trạng thái hóa học và điện tử của các nguyên tử trong vật liệu cũng như thành phần nguyên tố được đo.

Phân tích bề mặt góp phần hiểu biết về các lĩnh vực sau: mài mòn, cháy mòn, phân tách ranh giới hạt, lớp phủ, bôi trơn, oxy hóa, mỏi, chất bán dẫn / vi điện tử, vi mạch.

Nói chung, sự thay đổi số oxi hóa của các nguyên tử trong mỗi hợp chất được quan sát thấy trong một phản ứng và sau đó là các phản ứng hóa học của chúng. Số oxi hóa cũng đóng một vai trò quan trọng trong việc gọi tên một cách có hệ thống các hợp chất hóa học. Theo định nghĩa, số oxi hóa của một nguyên tử là điện tích mà nguyên tử sẽ có nếu hợp chất được tạo thành từ các ion. Trong chất trung hoà chỉ chứa nguyên tử của một nguyên tố, số oxi hoá của nguyên tử bằng không. Như vậy, các nguyên tử trong O2, O3, P4, S8 và nhôm kim loại đều có số oxi hóa 0. Số oxi hóa của các ion đơn giản bằng điện tích trên ion. Ví dụ, số oxi hóa của natri trong ion Na + là +1 và số oxi hóa của clo trong ion Cl- là -1.

Tóm lại, XPS là một phương pháp phân tích. Với phương pháp này, động năng của quang điện tử phát ra từ một mẫu tiếp xúc với tia X đơn sắc được đo. Năng lượng của các electron phát ra đặc trưng cho các nguyên tố có mặt và trạng thái oxi hóa của chúng.

Tổ chức của chúng tôi cũng cung cấp dịch vụ thử nghiệm phân tích XPS (loại nguyên tố và số oxy hóa) với đội ngũ chuyên gia được đào tạo và trang thiết bị công nghệ tiên tiến, trong số rất nhiều nghiên cứu thử nghiệm, đo lường, phân tích và đánh giá mà nó cung cấp cho các doanh nghiệp trong các lĩnh vực khác nhau.