DIN 51399-2 Ujian Pelincir - Penentuan Kandungan Unsur dalam Bahan Tambahan, Haus dan Bahan Pencemar Lain - Bahagian 2: Spektrometri Pendarfluor X-Ray Penyebaran Panjang Gelombang (XRF)

Piawaian “DIN 51399-2 Pengujian pelincir - Penentuan kandungan unsur dalam bahan tambahan, haus dan bahan cemar lain - Bahagian 2: Spektrometri pendarfluor sinar-X (XRF) penyebaran panjang gelombang” yang dibangunkan oleh Institut Pempiawaian Jerman (DIN) menerangkan kaedah ujian untuk menentukan kandungan unsur dalam kandungan pelincir atau minyak tambahan yang boleh melincirkan kandungan haus atau minyak tambahan. Spektrometri pendarfluor sinar-X panjang gelombang (XRF) digunakan dalam ujian ini.

Spektrometri pendarfluor sinar-X serakan panjang gelombang (WDXRF) ialah teknik tanpa pemusnah. Ia terkenal dalam menentukan komponen bukan organik sampel. Walau bagaimanapun, data spektrum kawasan penyerakan sinar-X tidak digunakan secara meluas, walaupun ia boleh memberikan maklumat tentang komponen organik dan interaksinya. Pendarfluor sinar-X serakan panjang gelombang ialah salah satu daripada dua instrumentasi pendarfluor sinar-X umum yang digunakan untuk aplikasi analisis unsur. Dalam spektrometer pendarfluor sinar-X serakan panjang gelombang, semua unsur dalam sampel teruja secara serentak.

Tenaga berbeza sinaran ciri yang dipancarkan daripada sampel dibiaskan ke arah yang berbeza dengan kristal penganalisis atau monokromator (serupa dengan kesan prisma yang memencarkan cahaya yang boleh dilihat dengan warna yang berbeza ke arah yang berbeza). Dengan meletakkan pengesan pada sudut tertentu, keamatan sinar-X bagi panjang gelombang tertentu boleh diukur. Spektrometer berjujukan menggunakan pengesan yang bergerak pada goniometer melalui julat sudut untuk mengukur keamatan pelbagai panjang gelombang yang berbeza. Spektrometer serentak dilengkapi dengan satu siri sistem pengesanan tetap, di mana setiap sistem mengukur sinaran unsur tertentu. Kelebihan utama sistem pendarfluor sinar-X panjang gelombang penyebaran adalah resolusi tinggi dan pertindihan spektrum yang minimum.

Optik sinar-X boleh digunakan untuk membangunkan instrumentasi pendarfluor sinar-X serakan panjang gelombang. Untuk instrumentasi XRF konvensional, saiz titik fokus biasa pada permukaan sampel berjulat daripada beberapa ratus mikrometer hingga beberapa milimeter diameter.

Spektroskopi penyebaran panjang gelombang berfungsi berdasarkan prinsip pembelauan. Apabila sinar-X yang dipancarkan daripada sampel memasuki spektroskopi penyebaran panjang gelombang, ia mengenai kristal dengan parameter kekisi kristal tertentu. Ini menyebabkan sinar-X difraksi (bengkok), dan jumlah sinar-X yang dibengkokkan bergantung kepada tenaganya.

Spektroskopi penyebaran panjang gelombang ialah teknik pelengkap kepada spektroskopi penyebaran tenaga untuk menjalankan analisis sinar-x bahan untuk menentukan komposisi unsurnya. Analisis unsur oleh spektroskopi penyebaran tenaga mempunyai beberapa kelemahan, seperti tahap latar belakang yang tinggi dan resolusi tenaga yang agak lemah. Ini mengakibatkan had pengesanan yang lebih lemah dan ketidakupayaan untuk memisahkan elemen dengan puncak tenaga yang serupa. Spektroskopi penyebaran panjang gelombang mengatasi batasan ini. Ia mempunyai resolusi tenaga yang jauh lebih tinggi, supaya puncak jarak rapat boleh dipisahkan dengan mudah, dan tahap latar belakang yang lebih bersih, supaya had pengesanan dipertingkatkan dengan banyak berbanding spektroskopi penyebaran panjang gelombang sahaja. Ini meningkatkan kuantifikasi dan pengenalan unsur.

Spektroskopi penyebaran panjang gelombang juga mempunyai kepekaan yang lebih tinggi kepada unsur nombor atom yang rendah, membolehkan pengesanan unsur yang lebih rendah dengan lebih baik. Hasilnya, ia memberikan keyakinan yang lebih tinggi dalam mengenal pasti unsur-unsur yang dikesan dalam mana-mana analisis tertentu.

Organisasi kami mempunyai kakitangan yang kuat yang mengikuti perkembangan dalam bidang sains dan teknologi di dunia dan sentiasa memperbaiki dirinya. Di antara pelbagai kerja ujian, pengukuran, analisis dan penilaian yang disediakan untuk syarikat dalam pelbagai sektor, terdapat juga perkhidmatan ujian mengikut piawaian "DIN 51399-2 Ujian pelincir - Penentuan kandungan unsur dalam bahan tambahan, haus dan bahan cemar lain - Bahagian 2: Spektrometri pendarfluor sinar-X (XRF) penyebaran panjang gelombang".