DIN 51399-2 Skúšanie mazív - Stanovenie obsahu prvkov v prísadách, opotrebovaní a iných kontaminantoch - Časť 2: Röntgenová fluorescenčná spektrometria s disperziou vlnových dĺžok (XRF)

Norma „DIN 51399-2 Skúšanie mazív – Stanovenie obsahu prvkov v prísadách, opotrebovaní a iných kontaminantoch – Časť 2: Röntgenová fluorescenčná spektrometria s disperziou vlnových dĺžok (XRF)“, ktorú vyvinul Nemecký inštitút pre normalizáciu (DIN), opisuje testovaciu metódu na stanovenie obsahu prvkov v mazacích olejoch, ktoré môžu pochádzať z obsahu prísad, opotrebenia alebo cudzích látok. V týchto testoch sa používa röntgenová fluorescenčná spektrometria (XRF) s disperziou vlnových dĺžok.

Röntgenová fluorescenčná spektrometria s disperziou vlnových dĺžok (WDXRF) je nedeštruktívna technika. Je dobre známa na stanovenie anorganických zložiek vzoriek. Hoci môže poskytnúť informácie o organických zložkách a ich interakciách, spektrálne údaje o oblasti rozptylu röntgenového žiarenia nie sú široko používané. Röntgenová fluorescencia s disperziou vlnových dĺžok je jednou z dvoch všeobecných metód röntgenovej fluorescencie používaných na elementárnu analýzu. V röntgenových fluorescenčných spektrometroch s disperziou vlnových dĺžok sú všetky prvky vo vzorke excitované súčasne.

Rôzne energie charakteristického žiarenia vyžarovaného zo vzorky sú rozptyľované do rôznych smerov analyzujúcim kryštálom alebo monochromátorom (podobne ako hranol rozptyľujúci viditeľné svetlo rôznych farieb do rôznych smerov). Umiestnením detektora pod špecifickým uhlom je možné merať intenzitu röntgenového žiarenia špecifickej vlnovej dĺžky. Sekvenčné spektrometre používajú detektor, ktorý sa pohybuje na goniometri v uhlovom rozsahu na meranie intenzít mnohých rôznych vlnových dĺžok. Simultánne spektrometre sú vybavené radom pevných detekčných systémov, kde každý systém meria žiarenie konkrétneho prvku. Hlavnými výhodami systémov röntgenovej fluorescencie s disperziou vlnových dĺžok sú vysoké rozlíšenie a minimálne spektrálne prekrývanie.

Röntgenová optika sa môže použiť na vývoj prístrojov na röntgenovú fluorescenciu s disperziou vlnových dĺžok. Pri konvenčných prístrojoch XRF sa typické veľkosti ohniskových bodov na povrchu vzorky pohybujú od niekoľkých stoviek mikrometrov do niekoľkých milimetrov v priemere.

Spektroskopia disperznej vlnovej dĺžky pracuje na princípe difrakcie. Keď röntgenové lúče emitované zo vzorky vstúpia do spektroskopie s disperziou vlnových dĺžok, dopadnú na kryštál s určitými parametrami kryštálovej mriežky. To spôsobuje difrakciu (ohyb) röntgenových lúčov a miera ohybu röntgenových lúčov závisí od ich energie.

Vlnová disperzná spektroskopia je doplnkovou technikou k energetickej disperznej spektroskopii na vykonávanie röntgenovej analýzy materiálov s cieľom určiť ich elementárne zloženie. Elementárna analýza pomocou energeticky disperznej spektroskopie má niekoľko nedostatkov, ako sú vysoké úrovne pozadia a relatívne nízke energetické rozlíšenie. To má za následok slabšie detekčné limity a neschopnosť oddeliť prvky s vrcholmi podobnej energie. Spektroskopia s disperziou vlnových dĺžok tieto obmedzenia prekonáva. Má oveľa vyššie energetické rozlíšenie, takže je možné ľahko oddeliť blízko seba umiestnené píky, a čistejšie úrovne pozadia, takže detekčné limity sú výrazne zlepšené v porovnaní s samotnou spektroskopiou s disperziou vlnových dĺžok. To zlepšuje kvantifikáciu a identifikáciu prvkov.

Spektroskopia s disperziou vlnových dĺžok má tiež oveľa vyššiu citlivosť na prvky s nízkym atómovým číslom, čo umožňuje oveľa lepšiu detekciu nižších prvkov. V dôsledku toho poskytuje oveľa vyššiu istotu pri identifikácii prvkov detegovaných v akejkoľvek danej analýze.

Naša organizácia má silný personál, ktorý pozorne sleduje vývoj v oblasti vedy a techniky vo svete a neustále sa zlepšuje. Medzi početnými testovacími, meracími, analytickými a hodnotiacimi prácami poskytovanými pre spoločnosti v rôznych odvetviach patria aj testovacie služby podľa normy „DIN 51399-2 Skúšanie mazív - Stanovenie obsahu prvkov v prísadách, opotrebovaní a iných kontaminantoch - Časť 2: Röntgenová fluorescenčná spektrometria s disperziou vlnových dĺžok (XRF)“.