Analýza XPS (typ prvku a oxidačné číslo)

XPS je skratka odvodená od röntgenovej fotoelektrónovej spektroskopie, čo znamená röntgenová fotoelektrónová spektroskopia. Touto metódou sa vykonáva XPS povrchová analýza materiálov od kovov po polyméry.

S rastúcim dopytom po vysokovýkonných materiáloch rastie aj význam povrchového inžinierstva. Povrch materiálu je miestom interakcie s vonkajším prostredím a inými materiálmi a ovplyvňuje faktory ako rýchlosť korózie, katalytická aktivita, adhézne vlastnosti, zmáčavosť, kontaktný potenciál a mechanizmy porúch. Na zmenu alebo zlepšenie týchto vlastností sa používa povrchová úprava. Povrchová analýza sa používa na pochopenie povrchovej chémie a zlepšenie účinnosti povrchového inžinierstva. Röntgenová fotoelektrónová spektroskopia (XPS) je jedným zo štandardných nástrojov na charakterizáciu povrchu, od nepriľnavých povrchov riadu až po tenkovrstvovú elektroniku a bioaktívne povrchy.

Röntgenová fotoelektrónová spektroskopia (XPS), známa aj ako elektrónová spektroskopia pre chemickú analýzu, je technika na analýzu povrchovej chémie materiálu. Touto metódou sa meria chemický a elektrónový stav atómov v materiáli, ako aj elementárne zloženie.

Povrchová analýza prispieva k pochopeniu nasledujúcich oblastí: opotrebovanie, vyhorenie, oddelenie hraníc zŕn, povlaky, mazanie, oxidácia, únava, polovodiče/mikroelektronika, mikroobvody.

Vo všeobecnosti sa počas reakcie pozorujú zmeny v oxidačnom čísle atómov v každej zlúčenine a sledujú sa ich chemické reakcie. Oxidačné čísla zohrávajú významnú úlohu aj pri systematickom pomenovaní chemických zlúčenín. Podľa definície je oxidačné číslo atómu náboj, ktorý by mal atóm, keby bola zlúčenina zložená z iónov. V neutrálnej látke obsahujúcej atómy iba jedného prvku je oxidačné číslo atómu nula. Atómy v O2, O3, P4, S8 a hliníkovom kove teda majú oxidačné číslo 0. Oxidačné číslo jednoduchých iónov sa rovná náboju na ióne. Napríklad oxidačné číslo sodíka v ióne Na+ je +1 a oxidačné číslo chlóru v ióne Cl- je -1.

Stručne povedané, XPS je analytická metóda. Touto metódou sa meria kinetická energia fotoelektrónov emitovaných zo vzorky vystavenej monochromatickému röntgenovému žiareniu. Energie emitovaných elektrónov sú charakteristické pre prítomné prvky a ich oxidačný stav.

Naša organizácia tiež poskytuje služby testovania analýzy XPS (typ prvku a oxidačné číslo) so svojím vyškoleným a odborným personálom a pokročilým technologickým vybavením, medzi početnými testovacími, meracími, analytickými a hodnotiacimi štúdiami, ktoré poskytuje pre podniky v rôznych sektoroch.