Transmisyjny mikroskop elektronowy jest bardzo potężnym narzędziem w materiałoznawstwie. Wiązka elektronów o wysokiej energii przechodzi przez bardzo cienką próbkę, a interakcje między elektronami i atomami są wykorzystywane do obserwacji właściwości, takich jak struktura krystaliczna i właściwości, takie jak dyslokacje i granice ziaren w strukturze. Za pomocą tej metody można również wykonać analizy chemiczne.
TEM (transmisyjna mikroskopia elektronowa) to metoda analityczna służąca do badania wzrostu warstw, składu i defektów w półprzewodnikach. Wysoka rozdzielczość jest wykorzystywana do analizy jakości, kształtu, rozmiaru i gęstości materiałów.
Analiza metodą transmisyjnej mikroskopii elektronowej TEM działa na tych samych podstawowych zasadach, co mikroskopia świetlna, ale wykorzystuje elektrony zamiast światła. Ponieważ długość fali elektronów jest znacznie mniejsza niż długość fali światła, optymalna rozdzielczość uzyskiwana dla tych analizowanych obrazów jest o rząd wielkości lepsza niż w przypadku mikroskopu świetlnego. Tak więc ta metoda analizy może ujawnić najdrobniejsze szczegóły struktury wewnętrznej, w niektórych przypadkach tak małe, jak pojedyncze atomy.
Podczas procesu obrazowania wiązka elektronów z działa elektronowego jest skupiana na małej, cienkiej, spójnej wiązce za pomocą soczewki kondensorowej. Wiązka ta jest ograniczona aperturą kondensatora, która wyklucza elektrony pod dużym kątem. Wiązka następnie uderza w próbkę i przenosi fragmenty w zależności od grubości i przezroczystości elektronowej próbki. Ta transmitowana część jest ogniskowana przez soczewkę obiektywu na obrazie na ekranie luminoforowym lub w kamerze podłączonej do ładunku. Opcjonalne apertury obiektywu służą do zwiększenia kontrastu poprzez blokowanie elektronów dyfrakcyjnych pod dużym kątem. Obraz jest wtedy w pełni powiększany. Obraz uderza w ekran luminoforowy i wytwarzane jest światło, dzięki czemu użytkownik może zobaczyć obraz. Ciemniejsze obszary obrazu reprezentują obszary próbki, w których przesyłanych jest mniej elektronów, podczas gdy jaśniejsze obszary obrazu reprezentują obszary próbki, w których przesyłanych jest więcej elektronów.
Próbka testowa musi być wystarczająco cienka, aby przepuścić wystarczającą ilość elektronów, aby utworzyć obraz przy minimalnej utracie energii. Dlatego przygotowanie próbki jest ważnym aspektem procesu analizy TEM.
Nasza organizacja świadczy również usługi analizy transmisyjnego mikroskopu elektronowego TEM z wyszkolonym i wykwalifikowanym personelem oraz zaawansowanym sprzętem technologicznym, wśród licznych badań, pomiarów, analiz i ewaluacji, które świadczy dla firm z różnych sektorów.
Możesz poprosić nas o wypełnienie formularza, aby umówić się na spotkanie, uzyskać bardziej szczegółowe informacje lub poprosić o ocenę.
