DIN 51399-2 潤滑劑測試 - 添加劑、磨損和其他污染物中元素含量的測定 - 第 2 部分：波長色散 X 射線螢光光譜法 (XRF)

德國標準化協會 (DIN) 制定的標準「DIN 51399-2 潤滑劑測試 - 添加劑、磨損和其他污染物中元素含量的測定 - 第 2 部分：波長色散 X 射線螢光光譜法 (XRF)」描述了一種用於確定潤滑油中可能源自添加劑、磨損或異物的元素含量的測試方法。這些測試採用了波長色散X射線螢光光譜法（XRF）。

波長色散X射線螢光光譜法（WDXRF）是一種非破壞性分析技術，常用於測定樣品中的無機成分。然而，儘管它也能提供有關有機成分及其相互作用的信息，但X射線散射區域的光譜數據並未廣泛應用。波長色散X射線螢光光譜儀是用於元素分析的兩種常用X射線螢光儀器之一。在波長色散X射線螢光光譜儀中，樣品中的所有元素同時被激發。

樣品發射的特徵輻射的不同能量透過分析晶體或單色儀衍射到不同的方向（類似於棱鏡將不同顏色的可見光色散到不同方向的效果）。透過將偵測器放置在特定角度，可以測量特定波長的 X 射線強度。順序光譜儀使用在測角儀上以一定角度範圍移動的探測器來測量許多不同波長的強度。同時光譜儀配備了一系列固定的偵測系統，每個系統測量特定元素的輻射。波長色散X射線螢光系統的主要優點是高解析度和最小的光譜重疊。

X射線光學可用於開發波長色散X射線螢光儀器。對於傳統的 XRF 儀器，樣品表面的典型焦點尺寸範圍為數百微米到幾毫米直徑。

波長色散光譜學基於繞射原理。當樣品發射的X射線進入波長色散光譜時，它們會撞擊具有特定晶格參數的晶體。這會導致 X 射線衍射（彎曲），X 射線彎曲的程度取決於其能量。

波長色散光譜法是能量色散光譜法的補充技術，用於對材料進行 X 射線分析以確定其元素組成。透過能量色散光譜進行元素分析有幾個缺點，例如背景水平高和能量分辨率相對較差。這會導致檢測極限較弱，並且無法分離具有相似能量峰值的元素。波長色散光譜法克服了這些限制。它具有更高的能量分辨率，因此可以輕鬆分離間距緊密的峰值，並且背景水平更清晰，因此檢測極限比單獨的波長色散光譜法大大提高。這提高了元素的量化和識別。

波長色散光譜對低原子序元素也有較高的靈敏度，可以更好地偵測較低原子序的元素。因此，它對任何給定分析中檢測到的元素的識別提供了更高的信心。

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