
XRF (X-ray fluorescence) teknik er en ikke-destruktiv analytisk teknik, der bruges til at bestemme grundstofsammensætningen af materialer. Med denne teknik exciteres XRF-analysatorer af en primær røntgenkilde, og en prøves kemi bestemmes ved at måle røntgenfluorescensen udsendt fra en prøve. Hvert af grundstofferne i en prøve producerer et sæt karakteristisk røntgenfluorescens, der er unikt for det specifikke element. Derfor er XRF-spektroskopi anerkendt som en fremragende teknologi til kvalitativ og kvantitativ analyse af materialesammensætning.

De fleste atomer har adskillige elektronbaner. Når røntgenenergi får elektroner til at bevæge sig ind og ud af disse orbitalniveauer, skabes der XRF-toppe med varierende intensiteter i spektret. Topenergien identificerer elementet, og tophøjden eller intensiteten er generelt en indikation af dets koncentration.
Denne metode bruges i forskellige industrier til følgende formål:
Under analysen udsender analysatoren en rettet strålestråle, når røret aktiveres. Der bør gøres en rimelig indsats for at holde strålingseksponeringen så langt under dosisgrænserne som muligt. Tre faktorer, der minimerer strålingseksponering, er: tid, afstand og beskyttelse.
Vores organisation leverer også materialeindholdsanalysetjenester med XRF-teknik, med dets uddannede og eksperter og avanceret teknologisk udstyr, blandt de talrige test-, måling-, analyse- og evalueringsundersøgelser, den leverer til virksomheder i forskellige sektorer.
