Analiza XPS (typ pierwiastka i numer utleniania)

XPS to akronim wywodzący się od rentgenowskiej spektroskopii fotoelektronów, co oznacza rentgenowską spektroskopię fotoelektronów. Za pomocą tej metody przeprowadza się analizę powierzchni XPS materiałów od metali po polimery.

Wraz ze wzrostem zapotrzebowania na materiały o wysokiej wydajności rośnie również znaczenie inżynierii powierzchni. Powierzchnia materiału jest punktem interakcji ze środowiskiem zewnętrznym i innymi materiałami oraz wpływa na takie czynniki, jak szybkość korozji, aktywność katalityczna, właściwości adhezyjne, zwilżalność, potencjał kontaktowy i mechanizmy uszkodzeń. Modyfikacja powierzchni służy do zmiany lub poprawy tych właściwości. Analiza powierzchni służy do zrozumienia chemii powierzchni i poprawy skuteczności inżynierii powierzchni. Od nieprzywierających powłok naczyń kuchennych po cienkowarstwową elektronikę i bioaktywne powierzchnie, rentgenowska spektroskopia fotoelektronów (XPS) jest jednym ze standardowych narzędzi do charakteryzowania powierzchni.

Rentgenowska spektroskopia fotoelektronów (XPS), znana również jako spektroskopia elektronów do analizy chemicznej, to technika analizy chemii powierzchni materiału. Za pomocą tej metody mierzy się stan chemiczny i elektronowy atomów w materiale oraz skład pierwiastkowy.

Analiza powierzchni przyczynia się do zrozumienia następujących obszarów: zużycie, wypalenie, separacja granic ziaren, powłoki, smarowanie, utlenianie, zmęczenie, półprzewodniki/mikroelektronika, mikroukłady.

Ogólnie rzecz biorąc, podczas reakcji obserwuje się zmiany stopni utlenienia atomów w każdym związku i śledzi się ich reakcje chemiczne. Liczby utlenienia odgrywają również ważną rolę w systematycznym nazewnictwie związków chemicznych. Z definicji stopień utlenienia atomu to ładunek, jaki miałby atom, gdyby związek składał się z jonów. W obojętnej substancji zawierającej atomy tylko jednego pierwiastka stopień utlenienia atomu wynosi zero. Zatem atomy w O2, O3, P4, S8 i metalicznym aluminium mają stopień utlenienia 0. Stopień utlenienia prostych jonów jest równy ładunkowi jonu. Na przykład stopień utlenienia sodu w jonie Na+ wynosi +1, a stopień utlenienia chloru w jonie Cl- wynosi -1.

Krótko mówiąc, XPS jest metodą analityczną. Za pomocą tej metody mierzy się energię kinetyczną fotoelektronów emitowanych z próbki wystawionej na monochromatyczne promieniowanie rentgenowskie. Energie emitowanych elektronów są charakterystyczne dla obecnych pierwiastków i ich stopnia utlenienia.

Nasza organizacja świadczy również usługi testowania analizy XPS (rodzaj pierwiastka i stopień utlenienia) z wyszkolonym i doświadczonym personelem oraz zaawansowanym sprzętem technologicznym, wśród licznych badań testowych, pomiarowych, analitycznych i oceniających, które zapewnia firmom z różnych sektorów.