
American Society for Testing and Materials (ASTM) မှထုတ်ဝေသော " ASTM E903-20 စံနမူနာစစ်ဆေးမှုနည်းလမ်းသည် နေရောင်ခြည်စုပ်ယူမှု၊ ရောင်ပြန်ဟပ်မှုနှင့် ပေါင်းစပ်စက်လုံးများကိုအသုံးပြု၍ ပစ္စည်းများပေးပို့ခြင်းအတွက်" စံညွှန်းတွင် ရောင်စဉ်တန်းစုပ်ယူမှု၊ ရောင်ပြန်ဟပ်မှုကို တိုင်းတာသတ်မှတ်သည့် စမ်းသပ်နည်းလမ်းကို ဖော်ပြသည်။ စက်လုံးများ ပေါင်းစပ်တပ်ဆင်ထားသော spectrophotometers ကို အသုံးပြု၍ ပစ္စည်းများ ပေးပို့ခြင်း။

ဤစံနှုန်းသည် တိုင်းတာထားသော ရောင်စဉ်တန်းတန်ဖိုးများမှ နေရောင်ခြည်အလေးချိန်ရှိသော အင်္ဂါရပ်များကို တွက်ချက်ရန်အတွက် နည်းလမ်းများကို သတ်မှတ်ပေးပါသည်။ ဤစမ်းသပ်မှုနည်းလမ်းသည် specular နှင့် diffuse optical ဂုဏ်သတ္တိများရှိသောပစ္စည်းများနှင့်သက်ဆိုင်သည်။ ဤစမ်းသပ်မှုနည်းလမ်းသည် စမ်းသပ်ထားသောပစ္စည်း၏ တစ်ရှူးများအပေါ် အကျိုးသက်ရောက်မှုအတွက် အထူးထည့်သွင်းစဉ်းစားထားသည့် optical coatings ပါသည့်ပစ္စည်းများနှင့် သက်ဆိုင်ပါသည်။
ပုံသဏ္ဍာန်မတူညီသော၊ ပုံသဏ္ဍာန်ပုံစံ၊ ပုံသဏ္ဍာန်ပြုလုပ်ထားသော သို့မဟုတ် ကော်ရစ်ပတ်ထားသည့် စပယ်ယာစာရွက်ပစ္စည်းများသည် ဤစမ်းသပ်မှုနည်းလမ်း၏အသုံးချမှုအတွက် အထူးထည့်သွင်းစဉ်းစားရန် လိုအပ်ပါသည်။ ဤကိစ္စနှင့်စပ်လျဉ်း၍ စံ "ASTM E1084-86 စံပြစမ်းသပ်မှုနည်းလမ်း" နေရောင်ခြည်ကိုအသုံးပြုထားသောစာရွက်ပစ္စည်းများ၏နေရောင်ခြည်ထုတ်လွှင့်ခြင်းအတွက်စံနမူနာစမ်းသပ်မှုနည်းလမ်း" သည် ထုထည်ရှိသော သို့မဟုတ် တစ်သမတ်တည်းရှိသောပစ္စည်းများ၏အမြောက်အများရှိသော optical ဂုဏ်သတ္တိများကိုဆုံးဖြတ်ရန်အတွက် ပို၍သင့်လျော်သည်ဟုယူဆပါသည်။ တစ်သားတည်းဖြစ်စေသောပစ္စည်းများအတွက်၊ ဤစမ်းသပ်မှုနည်းလမ်းကို ASTM E1084-86(2023) တွင်ဖော်ပြထားသော စမ်းသပ်နည်းလမ်းကို ဦးစားပေးပါသည်။
ဤစမ်းသပ်မှုနည်းလမ်းသည် စံကိုးကားသော နေရောင်ခြည်ရောင်စဉ်တန်းများ ဖြန့်ဖြူးမှုများကို အသုံးပြုသည့် အက်ပ်လီကေးရှင်းများကို ရည်ညွှန်းသော်လည်း၊ နေရောင်ခြည်ရောင်စဉ်တန်းခွဲဝေမှုနှင့် အလေးချိန်၏ အရင်းအမြစ်နှင့် အသေးစိတ်အချက်အလက်များကို အစီရင်ခံထားသရွေ့ ရွေးချယ်ထားသည့် ရောင်စဉ်တန်းကို အသုံးပြု၍လည်း အသုံးပြုနိုင်မည်ဖြစ်သည်။
ဤစံနှုန်း၏ရည်ရွယ်ချက်များအတွက်၊ ASTM E772-15 တွင်ဖော်ပြထားသော အဓိပ္ပါယ်ဖွင့်ဆိုချက်များအပြင် အောက်ပါအသုံးအနှုန်းများနှင့် အဓိပ္ပါယ်ဖွင့်ဆိုချက်များ အကျုံးဝင်သည်-
ရောင်စဉ်တန်း ပုံမှန်ကမ္ဘာခြမ်းအနီး ထုတ်လွှင့်မှု (သို့မဟုတ် ရောင်ပြန်ဟပ်မှု) တိုင်းတာမှုများကို ပေါင်းစပ်စက်လုံး spectrophotometer ဖြင့် ရောင်စဉ်တန်းအကွာအဝေး 300 မှ 2500 nm တွင် ပြုလုပ်ထားသည်။ နေရောင်ခြည်မှ ထုတ်လွှတ်ခြင်း၊ ရောင်ပြန်ဟပ်ခြင်း သို့မဟုတ် စုပ်ယူခြင်းတို့ကို သင့်လျော်သော convolution integrals များ တိုက်ရိုက်တွက်ချက်ခြင်းဖြင့် သို့မဟုတ် အလေးချိန် ပျမ်းမျှအား စံတစ်ခု သို့မဟုတ် ရွေးချယ်ထားသော ဆိုလာရောင်စဉ်တန်းဖြာထွက်မှုအဖြစ် အလေးချိန်ချိန်ခြင်းလုပ်ဆောင်မှုအဖြစ် သို့မဟုတ် ရွေးချယ်ထားသော ordinate နည်းလမ်းဖြင့် အလေးချိန်အလိုက် ရရှိသည်။
နေရောင်ခြည်စွမ်းအင်စုပ်ယူမှု၊ ရောင်ပြန်ဟပ်မှုနှင့် ထုတ်လွှင့်မှုတို့သည် passive building systems မှ ဗဟိုချုပ်ကိုင်မှုလက်ခံသည့် ဓာတ်အားစနစ်များအထိ ဆိုလာစွမ်းအင်စနစ်အားလုံး၏ စွမ်းဆောင်ရည်တွင် အရေးကြီးပါသည်။ ဤစမ်းသပ်မှုနည်းလမ်းသည် သမပိုင်းဇုန်ရှိ စနစ်တစ်ခုအသုံးပြုစဉ်အတွင်း ကြုံတွေ့နိုင်သည့် ပျမ်းမျှအားကိုယ်စားပြုသည့် အဆက်မပြတ်အခြေအနေများအောက်တွင် ဤတန်ဖိုးများကို အဆုံးအဖြတ်ပေးသည့် နည်းလမ်းတစ်ခုဖြစ်သည်။
နေရောင်ခြည်စွမ်းအင်စုပ်ယူမှု၊ ရောင်ပြန်ဟပ်မှုနှင့် ထုတ်လွှင့်မှုတို့သည် အာကာသယာဉ်၏ အပူထိန်းချုပ်မှုနှင့် အာကာသအတွင်း နေစွမ်းအင်ကို ထိန်းချုပ်ရန်အတွက် အရေးကြီးသည်။ ဤစမ်းသပ်မှုနည်းလမ်းသည် ပြင်ပကမ္ဘာအခြေအနေများအတွက် အဆိုပါတန်ဖိုးများကို ဆုံးဖြတ်ရန် နည်းလမ်းတစ်ခုလည်း ထောက်ပံ့ပေးသည်။
ဤစမ်းသပ်မှုနည်းလမ်းသည် ဓာတ်ခွဲခန်းများကြား သို့မဟုတ် တူညီသောဓာတ်ခွဲခန်းအတွင်း မတူညီသောအချိန်များတွင် ရလဒ်များကို နှိုင်းယှဉ်ခြင်းနှင့် မတူညီသောပစ္စည်းများတွင်ရရှိသောဒေတာကို နှိုင်းယှဉ်ရန်အတွက် သင့်လျော်သောပြန်လည်ထုတ်လုပ်နိုင်သောဒေတာကို ပေးစွမ်းရန် ဒီဇိုင်းရေးဆွဲထားသည်။
ဤစမ်းသပ်နည်းလမ်းသည် specular နှင့် diffuse optical ဂုဏ်သတ္တိနှစ်မျိုးလုံးရှိသော ချောမွေ့သောပစ္စည်းများအတွက် လက်တွေ့ကျကြောင်း သက်သေပြခဲ့သည်။ အသွင်အပြင်ရှိသော၊ တစ်သားတည်းမဟုတ်သော၊ ပုံစံရှိသော သို့မဟုတ် grooved ပစ္စည်းများသည် အထူးအာရုံစိုက်မှုလိုအပ်သည်။ မျက်နှာပြင်ကြမ်းတမ်းမှုသည် ဖိခြင်း၊ လှိမ့်ခြင်း၊ ပွန်းပဲ့ခြင်း သို့မဟုတ် ဖလင် သို့မဟုတ် ဓာတုအလွှာများကို ပစ္စည်းများအပေါ်တွင် စုပုံခြင်းကဲ့သို့သော ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာ သို့မဟုတ် ဓာတုဗေဒဆိုင်ရာ လုပ်ငန်းစဉ်များမှ ဖြစ်ပေါ်လာနိုင်ပြီး အသွင်အပြင်ရှိသော မျက်နှာပြင်များကို ဖြစ်ပေါ်စေနိုင်သည်။
ရောင်စဉ်ဖိုတိုမီတာနှင့် ၎င်း၏အစိတ်အပိုင်းများ (ရောင်ခြည်အရွယ်အစားများ၊ စက်ဝိုင်းအပေါက်များ၊ နမူနာကိုင်ဆောင်သူဖွဲ့စည်းပုံ) ရှိ မျက်နှာပြင်ကြမ်းတမ်းမှုပမာဏသည် ဤစမ်းသပ်နည်းလမ်းကို အသုံးပြု၍ ပြုလုပ်သော တိုင်းတာမှုများ၏ တိကျမှုကို သိသိသာသာ သက်ရောက်မှုရှိနိုင်သည်။ နမူနာ၏ နေရာအမျိုးမျိုး သို့မဟုတ် ဦးတည်ချက်အမျိုးမျိုးတွင် ထပ်ခါတလဲလဲတိုင်းတာမှုများအပါအဝင် အသွင်အပြင်ရှိသော ပစ္စည်းတိုင်းတာမှုများ၏ ထပ်ခါတလဲလဲလုပ်ဆောင်နိုင်မှု သို့မဟုတ် အာရုံခံနိုင်စွမ်းကောင်းမွန်သည့်တိုင် မတူညီသောဓာတ်ခွဲခန်းများရှိ မတူညီသောရောင်စဉ်ဖိုတိုမီတာများ၏ မတူညီသောသတ်မှတ်ချက်များသည် တိုင်းတာမှုရလဒ်များတွင် သိသာထင်ရှားသော ကွဲပြားမှုများကို ဖြစ်ပေါ်စေနိုင်သည်။
ကဏ္ဍအသီးသီးရှိ စီးပွားရေးလုပ်ငန်းများအတွက် စမ်းသပ်ခြင်း၊ တိုင်းတာခြင်း၊ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းနှင့် အကဲဖြတ်ခြင်းဆိုင်ရာ လေ့လာမှုအများအပြားတွင် ကျွန်ုပ်တို့၏အဖွဲ့အစည်းသည် ၎င်း၏ လေ့ကျင့်သင်ကြားထားသော ကျွမ်းကျင်ဝန်ထမ်းများနှင့် အဆင့်မြင့်နည်းပညာသုံးပစ္စည်းများဖြင့် "ASTM E903-20 Standard test method for solar absorption, reflection and ပေါင်းစပ်စက်လုံးများကို အသုံးပြု၍ ပစ္စည်းများ၏ စိမ့်ဝင်နိုင်မှုစံနှုန်း၊ ၎င်းသည် သတ်မှတ်ထားသော စမ်းသပ်ခြင်းဝန်ဆောင်မှုများကို ပေးဆောင်ပါသည်။
