SEMI F77 သည် ကမ္ဘာတစ်ဝှမ်းရှိ semiconductor၊ integrated circuits၊ transistors၊ diodes နှင့် flat panel display များကဲ့သို့သော စက်မှုလုပ်ငန်းများကို အကျိုးပြုသည့် လုပ်ဆောင်ချက်များပါဝင်သည့် International Semiconductor Equipment and Materials (SEMI) program ဟုခေါ်သော နိုင်ငံတကာစံနှုန်းအစီအစဉ်၏ မူဘောင်အတွင်း တီထွင်ထားပြီး semiconductor ထုတ်လုပ်ရန်အတွက် corrosive gas delivery systems များတွင် အသုံးပြုရန် ရည်ရွယ်ထားသော အစိတ်အပိုင်းများ၏ စိုစွတ်သောမျက်နှာပြင်များ၏ pitting corrosion ကို နှိုင်းရခုခံမှုကို ဆုံးဖြတ်ရန် စမ်းသပ်နည်းလမ်းကို သတ်မှတ်ပေးပါသည်။ ဤစမ်းသပ်နည်းလမ်းသည် American Society for Testing and Materials (ASTM) မှ ထုတ်ဝေသော ASTM G150 စံနှုန်း (သံမဏိနှင့် ဆက်စပ်သတ္တုစပ်များ၏ electrochemical critical pitting temperature testing အတွက် ASTM G150-18 စံနှုန်းစမ်းသပ်နည်းလမ်း) ကို လိုက်လျောညီထွေဖြစ်အောင် ပြုလုပ်ထားခြင်း ဖြစ်သည်။ ဤစံနှုန်းသည် စိုစွတ်သောမျက်နှာပြင်များ၏ corrosion စွမ်းဆောင်ရည်ကို ထိခိုက်စေမည့် alloy ဖွဲ့စည်းမှုများ သို့မဟုတ် လုပ်ငန်းစဉ်များကို ခွဲခြားသတ်မှတ်ရန် ရည်ရွယ်ပါသည်။ SEMI F77 စံနှုန်း၏ အသေးစိတ်အချက်အလက်များကို ASTM G150 စံနှုန်းတွင် ပါဝင်ပြီး ဤစမ်းသပ်နည်းလမ်းကို အသုံးချရန်အတွက် ASTM G150 စံနှုန်းကို ရည်ညွှန်းရန် အကြံပြုအပ်ပါသည်။
SEMI F77 စံနှုန်းတွင် ဖော်ပြထားသော စမ်းသပ်နည်းလမ်းတွင် ပိုက်များ၏ စိုစွတ်နေသော မျက်နှာပြင်များ သို့မဟုတ် အဆိပ်ဓာတ်ငွေ့စနစ်များတွင် အသုံးပြုရန် ရည်ရွယ်ထားသော ပိုက်များ၏ စိုစွတ်နေသော မျက်နှာပြင်များ သို့မဟုတ် အဆိပ်ဓာတ်ငွေ့စနစ်များတွင် အသုံးပြုရန် ရည်ရွယ်ထားသည့် ကိုယ်စားပြုအချောထည် မျက်နှာပြင်များ စမ်းသပ်မှုကူပွန်များ၏ pitting corrosion resistance ကို အဆင့်သတ်မှတ်ရန် အသုံးပြုသည့် လျှပ်စစ်ဓာတုအရေးပါသော pitting အပူချိန် အခြေခံလုပ်ထုံးလုပ်နည်းတစ်ခု ပါဝင်သည်။ Pitting corrosion သည် အထူးသဖြင့် semiconductor ဓာတ်ငွေ့ဖြန့်ဖြူးရေးစနစ်များတွင် သံချေးတက်ခြင်း၏ အရေးကြီးသောပုံစံတစ်ခုဖြစ်ပြီး အထူးသဖြင့် အစိတ်အပိုင်းများနှင့် ပိုက်များတွင် ဂဟေဆော်ပြီး သံချေးတက်နေသော ဓာတ်ငွေ့များနှင့် အစိုဓာတ်များနှင့် ထိတွေ့မှုဖြစ်သည်။
အတိုချုပ်အားဖြင့်၊ SEMI F77 စံစမ်းသပ်နည်းလမ်းသည် ASTM G150 စံစမ်းသပ်မှုနည်းလမ်း၏ လိုက်လျောညီထွေဖြစ်ပြီး ကူပွန်များ သို့မဟုတ် ဆလင်ဒါများကဲ့သို့သော ဓာတ်ငွေ့ထောက်ပံ့ရေးစနစ်အစိတ်အပိုင်းများမှ ဖြတ်ထားသော ကူပွန်များ သို့မဟုတ် စိုစွတ်သောမျက်နှာပြင်အပိုင်းများတွင် လိုက်လျောညီထွေဖြစ်စေရန်အတွက် စမ်းသပ်နည်းလမ်းကို ဖော်ပြသည်။ ဒါက စိုစွတ်တဲ့ နှစ်မြှုပ်နည်းပါ။
ဤစံနှုန်းကို ပြင်ဆင်နေစဉ်တွင်၊ အောက်ဖော်ပြပါ SEMI စံနှုန်းကို အကိုးအကားအဖြစ် သတ်မှတ်ခဲ့သည်-
ကဏ္ဍအသီးသီးရှိ စီးပွားရေးလုပ်ငန်းများအတွက် ပံ့ပိုးပေးသော စမ်းသပ်မှု၊ တိုင်းတာမှု၊ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုနှင့် အကဲဖြတ်မှုဆိုင်ရာ လေ့လာမှုအများအပြားတွင်၊ ကျွန်ုပ်တို့၏အဖွဲ့အစည်းသည် SEMI F77 စံသတ်မှတ်ချက်ဘောင်အတွင်း အသုံးပြုထားသော သံမဏိမျက်နှာပြင်များ၏ လျှပ်စစ်ဓာတုဗေဒဆိုင်ရာ အရေးပါသော pitting အပူချိန်ကို ဆုံးဖြတ်ရန် စမ်းသပ်ဝန်ဆောင်မှုများကို ဆောင်ရွက်ပေးပါသည်။ ကျွမ်းကျင်ဝန်ထမ်းများနှင့် အဆင့်မြင့်နည်းပညာသုံး စက်ကိရိယာများဖြင့် လေ့ကျင့်သင်ကြားပေးပါသည်။
ရက်ချိန်းယူရန်၊ အသေးစိတ်အချက်အလက်ရယူရန်သို့မဟုတ်အကဲဖြတ်ရန်တောင်းဆိုရန်ကျွန်ုပ်တို့၏ပုံစံကိုဖြည့်ရန်ကျွန်ုပ်တို့အားသင်တောင်းဆိုနိုင်သည်။
