SEMI F72Auger Test Method for Electron Spectroscopy (AES) Passivated 316L Stainless Steel အစိတ်အပိုင်းများ၏ စိုစွတ်သောမျက်နှာပြင်များကို စမ်းသပ်မှုများ

Semiconductor Equipment and Materials International (SEMI) ဟုခေါ်သော နိုင်ငံတကာစံချိန်စံညွှန်းအစီအစဉ်ဘောင်အတွင်းမှ တီထွင်ထုတ်လုပ်ထားခြင်းဖြစ်ပြီး SEMI F72 စံသတ်မှတ်ချက်၏ ရည်ရွယ်ချက်မှာ passivated 316L သံမဏိအစိတ်အပိုင်းများ၏ မျက်နှာပြင်ဖွဲ့စည်းမှုတွင် ထည့်သွင်းစဉ်းစားရန်အတွက် မြင့်မားသောသန့်စင်မှုရှိသော သံမဏိအစိတ်အပိုင်းများ၏ အသွင်အပြင်ကို ခွဲခြားသတ်မှတ်ရန်ဖြစ်သည်။ ဓာတ်ငွေ့ဖြန့်ဖြူးရေးစနစ်။ ဤစမ်းသပ်မှုနည်းလမ်းသည် passivation ၏ထိရောက်မှုကိုတိုင်းတာရန်အတွက် stainless steel ပိုက်၊ fittings၊ valves နှင့် အခြားသောအစိတ်အပိုင်းများ၏စိုစွတ်သောမျက်နှာပြင်များတွင်အသုံးပြုရန်ဒီဇိုင်းပြုလုပ်ထားသည်။ Passivation သည် သံချေးတက်သည့် အက်ဆစ်ကို အသုံးပြုပြီးနောက် သံအပေါ် ဆန့်ကျင်သည့် လုပ်ငန်းစဉ်ဖြစ်သည်။

ဤစမ်းသပ်မှုနည်းလမ်း၏ ရည်ရွယ်ချက်မှာ ခရိုမီယမ်ကြွယ်ဝသော passive အောက်ဆိုဒ်အလွှာအတွင်း ထပ်ခါတလဲလဲ တိုင်းတာမှုများရရှိနိုင်မည့် ယေဘူယျကိရိယာသတ်မှတ်ချက်များနှင့် အခြေအနေများကို သတ်မှတ်ရန်ဖြစ်သည်။ ဤစမ်းသပ်မှုနည်းလမ်းသည် stainless steel မျက်နှာပြင်များ၏ ခရိုမီယမ်ကြွယ်ဝသော အောက်ဆိုဒ်အလွှာ၏ ပါဝင်မှုနှင့် အထူကို ပုံဖော်ရန်နှင့် ပိုက်များ၊ ပရိဘောဂများ၊ အဆို့ရှင်များနှင့် အခြားအစိတ်အပိုင်းများတွင် မျက်နှာပြင်ညစ်ညမ်းမှုကို သိရှိရန် တီထွင်ခဲ့ခြင်းဖြစ်သည်။ နည်းလမ်းတွင် Auger electron spectroscopy (AES) ဖြင့် မျက်နှာပြင်ဒြပ်စင်ပါဝင်မှုကို ရှာဖွေခြင်းနှင့် တိုင်းတာခြင်းတို့ ပါဝင်ပါသည်။ ဤစမ်းသပ်နည်းသည် အောက်ဆိုဒ်အလွှာများမှတဆင့် လက်ခံရရှိသောမျက်နှာပြင်မှ အောက်ဆိုဒ်အလွှာများနှင့် အခြေခံသတ္တုထဲသို့ တိုးဝင်နေသော ခရိုမီယမ်၊ သံ၊ နီကယ်၊ အောက်ဆီဂျင်၊ အောက်ဆီဂျင်နှင့် ကာဗွန်တို့၏ အတိမ်အနက်ပါဝင်မှု ပရိုဖိုင်အတွက် စမ်းသပ်နည်းကိုလည်း ဖော်ပြသည်။ ဤတိုင်းတာမှုသည် passivated ဇုန်တစ်လျှောက်တွင် အောက်ဆိုဒ်အထူနှင့် ခရိုမီယမ်ကြွယ်ဝမှုဆိုင်ရာ အချက်အလက်များကို ပေးဆောင်သည်။

Auger အီလက်ထရွန် spectroscopy (AES) ကို အသုံးပြု၍ နမူနာအား စွမ်းအင်မြင့် အီလက်ထရွန်များဖြင့် ဗုံးကြဲထားပြီး အချို့သော အီလက်ထရွန်များကို ပစ်မှတ်အက်တမ်များမှ ဖယ်ရှားပြီး အက်တမ်များကို အိုင်ယွန်ဖြစ်စေသည်။ အိုင်းယွန်းအက်တမ်သည် မတည်မငြိမ်ဖြစ်သောကြောင့်၊ အပြင်ဘက်ပတ်လမ်းများမှ အီလက်ထရွန်သည် အတွင်းပတ်လမ်းကြောင်းအတွင်းရှိ အီလက်ထရွန်ကွာဟချက်ကို ဖြည့်ပေးသည်။ ဤနည်းလမ်းသည် အလွန်အစွမ်းထက်သော ရုပ်ပုံများကို ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း နည်းပညာတစ်ခုဖြစ်သည်။

ဤစံနှုန်းကို ပြင်ဆင်နေစဉ်တွင်၊ အောက်ဖော်ပြပါ SEMI စံနှုန်းများကို အကိုးအကားအဖြစ် ခံယူခဲ့သည်-

• SEMI C57 Argon အတွက် သတ်မှတ်ချက်
• SEMI C59 Nitrogen အတွက် သတ်မှတ်ချက်

ကဏ္ဍအသီးသီးရှိ စီးပွားရေးလုပ်ငန်းများအတွက် စမ်းသပ်ခြင်း၊ တိုင်းတာခြင်း၊ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းနှင့် အကဲဖြတ်ခြင်းဆိုင်ရာ လေ့လာမှုများစွာရှိသည့်အနက်၊ ကျွန်ုပ်တို့၏အဖွဲ့အစည်းသည် ၎င်း၏နယ်ပယ်အတွင်း လေ့ကျင့်သင်ကြားထားသော ကျွမ်းကျင်ဝန်ထမ်းများနှင့် အဆင့်မြင့်နည်းပညာပစ္စည်းများဖြင့် Auger electron spectroscopy (AES) အတွက် စမ်းသပ်နည်းလမ်းကို တီထွင်လိုက်ပါသည်။ passivated 72L stainless steel အစိတ်အပိုင်းများ၏ စိုစွတ်သောမျက်နှာပြင်များ၏ အောက်ဆိုဒ်ဂုဏ်သတ္တိများကို ဆုံးဖြတ်ရန် SEMI F316 စံသတ်မှတ်ချက်သည် ၎င်းသည် အလွှာ၏ အကဲဖြတ်ခြင်းအတွက် စမ်းသပ်ခြင်းဝန်ဆောင်မှုများပေးပါသည်။