Volkswagen VW TL 823 66 kombineret interferens i sensorkabler

Volkswagen VW TL 823 66 kombineret interferens i sensorkabler

VW TL 823 66-standarden, udviklet af bilproducenten Volkswagen , definerer en testmetode til bestemmelse af det kombinerede støjniveau i sensorledninger i køretøjer.

Volkswagen VW TL 823 66 kombineret interferens i sensorkabler

Grundlæggende er der tre forskellige niveauer af elektromagnetisk kompatibilitet (EMC) i køretøjer:

  • Køretøjsniveau. Dette handler for det meste ikke om chipudvikling.
  • Elektronisk kontrolenhed (ECU) niveau. Delvis relevant for chipudvikling.
  • Komponent/chip niveau. Dette er den vigtigste del for chipdesignere. Yderligere målinger er nødvendige for at sikre elektromagnetisk kompatibilitet.

Uønsket elektromagnetisk forbindelse er besværlig. Det kan forårsage elektromagnetisk interferens, både ekstern og intern interferens og interferens i elektroniske kredsløb. I en interferensfremkaldende elektromagnetisk forbindelse transmitterer eller udsender kildekomponenter elektromagnetiske signaler for at interferere med komponenter i samme kredsløb eller nabokredsløb. I lavfrekvente kredsløb er virkningerne af utilsigtet elektromagnetisk kobling forholdsvis mindre end i mikrobølge- og radiofrekvenskredsløb.

Elektromagnetisk interferens kan være fra et udstrålet signal eller fra et transmitteret signal, afhængigt af koblingen. Inden man designer reduktions- eller beskyttelsesmetoder, er det nødvendigt at kende de elektromagnetiske koblingstyper:

  • Udstrålet kobling: I den udstrålende kobling er kilden og modtageren eller offeret adskilt af en afstand. Kilden og offeret ligner mere radioantenner. Det elektromagnetiske signal, der udsendes af kilden, modtages af offeret og forstyrrer den normale drift af offeret og kredsløbet, hvori det er placeret.
  • Ledet kobling: Ledet kobling og interferens opstår, når der er en vej for utilsigtede elektromagnetiske signaler til at bevæge sig mellem kilden og offeret. Transmissionslinjer er de vigtigste transmissionsveje i elektroniske kredsløb.
  • Kapacitiv kobling: Koblingskapacitansen mellem kilde og offer er årsagen til kapacitiv kobling. Elektromagnetiske forstyrrelser afhænger af koblingskapacitans og spændingsvariationer.
  • Induktiv kobling: Når komponenter i et kredsløb er magnetisk koblet, er det en form for induktiv kobling. Parasitisk induktans spiller en vigtig rolle i inferensen forårsaget af induktiv kobling.

Med testmetoden beskrevet i VW TL 823 66 standarden bestemmes det kombinerede interferensniveau i sensorkablerne i køretøjerne.

Blandt de talrige test-, måling-, analyse- og evalueringsundersøgelser, som den leverer til virksomheder i forskellige sektorer, tilbyder vores organisation også kombinerede interferenstesttjenester i sensorkabler inden for rammerne af Volkswagen VW TL 823 66-standarden, med dets uddannede og ekspert personale og avancerede teknologisk udstyr.

WhatsApp