SEMI F72Auger Test Method for Electron Spectroscopy (AES) Kiểm tra bề mặt ướt của các thành phần thép không gỉ 316L thụ động

SEMI F72Auger Test Method for Electron Spectroscopy (AES) Kiểm tra bề mặt ướt của các thành phần thép không gỉ 316L thụ động

Được phát triển theo một chương trình tiêu chuẩn quốc tế được gọi là Thiết bị và Vật liệu Bán dẫn Quốc tế (SEMI), mục đích của tiêu chuẩn SEMI F72 là mô tả phương pháp thử nghiệm để mô tả thành phần bề mặt của các thành phần thép không gỉ 316L thụ động được xem xét để lắp đặt trong hệ thống phân phối khí có độ tinh khiết cao . Phương pháp thử nghiệm này được thiết kế để áp dụng cho các bề mặt ướt của ống thép không gỉ, phụ kiện, van và các thành phần khác như một biện pháp đánh giá hiệu quả của sự thụ động. Quá trình thụ động hóa là quá trình trung hòa trên sắt sau khi sử dụng axit loại bỏ gỉ.

SEMI F72Auger Test Method for Electron Spectroscopy (AES) Kiểm tra bề mặt ướt của các thành phần thép không gỉ 316L thụ động

Mục đích của phương pháp thử này là xác định một tập hợp các thông số và điều kiện chung của thiết bị để thu được các phép đo có thể tái lập trong lớp oxit thụ động được làm giàu crom. Phương pháp thử nghiệm này đã được chuẩn bị để đặc trưng cho thành phần và độ dày của lớp oxit làm giàu crom của bề mặt thép không gỉ và để phát hiện sự nhiễm bẩn bề mặt trong đường ống, phụ kiện, van và các thành phần khác. Phương pháp này liên quan đến việc phát hiện và đo thành phần phần tử bề mặt bằng quang phổ điện tử Auger (AES). Phương pháp thử này cũng mô tả phương pháp thử nghiệm đối với cấu tạo thành phần sâu của crom, sắt, niken, oxy và cacbon kéo dài từ bề mặt được lấy qua các lớp oxit và vào kim loại cơ bản. Phép đo này cung cấp thông tin về độ dày oxit và sự làm giàu crom trong toàn bộ vùng thụ động.

Sử dụng quang phổ điện tử Auger (AES), mẫu bị bắn phá bởi các điện tử năng lượng cao và một số điện tử bị bứt ra khỏi nguyên tử mục tiêu và nguyên tử bị ion hóa. Vì nguyên tử bị ion hóa không ổn định, một điện tử từ quỹ đạo bên ngoài sẽ lấp đầy chỗ trống của điện tử ở quỹ đạo bên trong. Phương pháp này là một kỹ thuật phân tích hình ảnh rất mạnh mẽ.

Trong khi chuẩn bị tiêu chuẩn này, các tiêu chuẩn SEMI sau đây đã được lấy làm tài liệu tham khảo:

  • Đặc điểm kỹ thuật cho SEMI C57 Argon
  • Đặc điểm kỹ thuật cho SEMI C59 Nitrogen

Tổ chức của chúng tôi, trong số rất nhiều nghiên cứu thử nghiệm, đo lường, phân tích và đánh giá mà nó đã cung cấp cho các doanh nghiệp trong các lĩnh vực khác nhau, với đội ngũ chuyên gia được đào tạo và trang thiết bị công nghệ tiên tiến, phương pháp thử nghiệm đối với quang phổ điện tử Auger (AES) trong phạm vi của SEMI Tiêu chuẩn F72 là phương pháp kiểm tra oxit bề mặt ướt của các thành phần thép không gỉ 316L bị thụ động. Nó cũng cung cấp dịch vụ kiểm tra để đánh giá lớp.

WhatsApp