Kỹ thuật XRF (huỳnh quang tia X) là một kỹ thuật phân tích không phá hủy được sử dụng để xác định thành phần nguyên tố của vật liệu. Với kỹ thuật này, máy phân tích XRF được kích thích bởi nguồn tia X sơ cấp và tính chất hóa học của mẫu được xác định bằng cách đo huỳnh quang tia X phát ra từ mẫu. Mỗi nguyên tố có trong một mẫu tạo ra một tập hợp huỳnh quang tia X đặc trưng cho nguyên tố cụ thể đó. Do đó, quang phổ XRF được công nhận là một công nghệ tuyệt vời để phân tích định tính và định lượng thành phần vật chất.
Hầu hết các nguyên tử đều có nhiều quỹ đạo electron. Khi năng lượng tia X làm cho các electron di chuyển ra vào các mức quỹ đạo này, các đỉnh XRF với cường độ khác nhau được tạo ra trong phổ. Năng lượng của đỉnh xác định nguyên tố, và chiều cao hoặc cường độ của đỉnh thường cho biết nồng độ của nó.
Phương pháp này được sử dụng trong các ngành công nghiệp khác nhau để:
Trong quá trình phân tích, máy phân tích phát ra một chùm bức xạ có hướng khi ống được cung cấp năng lượng. Cần có những nỗ lực hợp lý để giữ cho sự tiếp xúc với bức xạ càng dưới mức giới hạn liều càng tốt. Ba yếu tố giảm thiểu phơi nhiễm bức xạ là: thời gian, khoảng cách và biện pháp bảo vệ.
Tổ chức của chúng tôi cũng cung cấp dịch vụ phân tích nội dung tài liệu bằng kỹ thuật XRF, với đội ngũ chuyên gia được đào tạo và trang thiết bị công nghệ tiên tiến, trong số nhiều nghiên cứu thử nghiệm, đo lường, phân tích và đánh giá mà nó cung cấp cho các doanh nghiệp trong các lĩnh vực khác nhau.
Bạn có thể yêu cầu chúng tôi điền vào mẫu của chúng tôi để có được một cuộc hẹn, để có thêm thông tin hoặc yêu cầu đánh giá.
