DELPHI DX552500 การทำความสะอาดพื้นผิวของส่วนประกอบโลหะ

DELPHI DX552500 การทำความสะอาดพื้นผิวของส่วนประกอบโลหะ

Delphi คือซัพพลายเออร์ชั้นนำระดับโลกด้านอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์เคลื่อนที่และระบบการขนส่ง มาตรฐาน “DELPHI DX552500 การทำความสะอาดพื้นผิวของส่วนประกอบโลหะ” ที่พัฒนาโดยองค์กรนี้ อธิบายถึงข้อกำหนดในการทำความสะอาดสำหรับการหล่อแบบปั๊ม การปั๊ม การอัดขึ้นรูป และส่วนประกอบโลหะอื่นๆ ที่ไม่ได้เคลือบหลังจากการขึ้นรูป

DELPHI DX552500 การทำความสะอาดพื้นผิวของส่วนประกอบโลหะ

หมายเลขข้อมูลจำเพาะที่แสดงในชื่อเป็นหมายเลขทั่วไปสำหรับข้อกำหนดด้านความสะอาดพื้นผิวต่างๆ ของส่วนประกอบโลหะที่จัดหาให้กับ Delphi ตารางชื่อ "ข้อกำหนดในการทำความสะอาด" ที่ระบุในมาตรฐานประกอบด้วยหมายเลขข้อกำหนดที่จะใช้ในแบบร่างและสะท้อนถึงข้อกำหนดพื้นฐานของข้อกำหนดเฉพาะ กล่าวคือ

  • หมายเลขข้อกำหนดของ Delphi DX552501: ต้องมีการทดสอบการปนเปื้อนของไอออนิก ขนาดอนุภาคแปลกปลอมสูงสุด 127 ไมครอน ไม่จำเป็นต้องทดสอบการยึดเกาะ
  • หมายเลขข้อกำหนดของ Delphi DX552502: ต้องมีการทดสอบการปนเปื้อนของไอออนิก ขนาดอนุภาคแปลกปลอมสูงสุด 254 ไมครอน ไม่จำเป็นต้องทดสอบการยึดเกาะ
  • หมายเลขข้อกำหนดของ Delphi DX552503: ต้องมีการทดสอบการปนเปื้อนของไอออนิก ขนาดอนุภาคแปลกปลอมสูงสุด 508 ไมครอน ไม่จำเป็นต้องทดสอบการยึดเกาะ
  • หมายเลขข้อกำหนดของ Delphi DX552504: ต้องมีการทดสอบการปนเปื้อนของไอออนิก ขนาดอนุภาคแปลกปลอมสูงสุด 127 ไมครอน ต้องมีการทดสอบการยึดเกาะ
  • หมายเลขข้อกำหนดของ Delphi DX552505: ต้องมีการทดสอบการปนเปื้อนของไอออนิก ขนาดอนุภาคแปลกปลอมสูงสุด 254 ไมครอน ต้องมีการทดสอบการยึดเกาะ
  • หมายเลขข้อกำหนดของ Delphi DX552506: ต้องมีการทดสอบการปนเปื้อนของไอออนิก ขนาดอนุภาคแปลกปลอมสูงสุด 508 ไมครอน ต้องมีการทดสอบการยึดเกาะ

ข้อกำหนดพิเศษที่แสดงบนแบบร่างของชิ้นส่วนมีความสำคัญเหนือกว่าหรืออาจเพิ่มเติมจากข้อกำหนดใดๆ ในข้อกำหนดเฉพาะนี้

วัสดุทั้งหมดที่จัดหาตามมาตรฐานนี้จะต้องเป็นไปตามข้อกำหนดที่ระบุไว้ในมาตรฐาน DX000005

ข้อกำหนดในมาตรฐานนี้อธิบายไว้ดังนี้:

  • การทดสอบการยึดเกาะ (DX900423): ส่วนประกอบที่เป็นโลหะต้องแสดงความล้มเหลวในการยึดเกาะมากกว่า 900423 เปอร์เซ็นต์ เมื่อทดสอบตามมาตรฐาน DX90
  • การปนเปื้อนของไอออนิก: ส่วนประกอบโลหะทั้งหมดที่ควบคุมตามมาตรฐานนี้จะต้องเป็นไปตามระดับการปนเปื้อนของไอออนิกที่ระบุในตารางที่ให้ไว้ในมาตรฐาน เมื่อทดสอบตามมาตรฐาน IPC-TM-650 Section 2.3.28.2 กล่าวคือ
    • ขีดจำกัดการปนเปื้อนของคลอไรด์ สูงสุด 0,75 µg/cm2
    • ขีดจำกัดการปนเปื้อนของโบรไมด์ สูงสุด 1,0 µg/cm2
    • ขีดจำกัดการปนเปื้อนของโซเดียม สูงสุด 2,0 µg/cm2
    • ขีดจำกัดการปนเปื้อนอนินทรีย์ทั้งหมด สูงสุด 30,8 µg/cm2

ซัพพลายเออร์รวมไอออนที่ระบุไว้ในตารางที่ให้ไว้ในมาตรฐานโดยเป็นส่วนหนึ่งของการคำนวณอนินทรีย์ทั้งหมด ข้อกำหนดนี้มีไว้สำหรับ PPAP เท่านั้น และไม่ใช่ข้อกำหนดในการควบคุมกระบวนการ

  • ขนาดอนุภาคต่างประเทศ: ส่วนประกอบทั้งหมดที่ควบคุมตามมาตรฐานนี้จะต้องไม่มีอนุภาคหลวมที่พื้นผิวที่มีขนาดใหญ่กว่าขนาดที่ระบุในตารางที่อธิบายข้างต้น เมื่อทดสอบตามวิธี C ที่กำหนดไว้ในมาตรฐาน "ASTM F303-02 แนวทางปฏิบัติมาตรฐานสำหรับการสุ่มตัวอย่างอนุภาค ในของเหลวและส่วนประกอบการบิน” กระบวนการทำความสะอาดที่ใช้ในส่วนประกอบของ Delphi จะต้องสามารถสแกนและกรองอนุภาคทั้งหมดที่ใหญ่กว่าขนาดที่ระบุออกได้

ต้องทำความสะอาดพื้นผิวโลหะบ่อยๆ ก่อนการทำงานครั้งต่อไป เพื่อกำจัดสารที่ไม่พึงประสงค์ เช่น สารประกอบที่ใช้สร้างเม็ดสี น้ำมันและจาระบีที่ไม่มีเม็ดสี เศษชิปและของเหลวในการตัด สารประกอบการขัดและขัดเงา สนิมและตะกรัน และสิ่งปนเปื้อนต่างๆ

ในการผลิตทางอุตสาหกรรม การบำรุงรักษาส่วนประกอบคุณภาพสูงช่วยให้มั่นใจได้ถึงอายุการใช้งานที่ยาวนานและความน่าเชื่อถือ ความสะอาดพื้นผิวเป็นปัจจัยสำคัญที่ส่งผลต่อคุณภาพและอายุการใช้งานของส่วนประกอบทางอุตสาหกรรม ความสะอาดของพื้นผิวหมายถึงระดับสิ่งปนเปื้อนบนพื้นผิวของส่วนประกอบ และเป็นปัจจัยสำคัญในการรับรองความปลอดภัย ความน่าเชื่อถือ และความสมบูรณ์ สารต่างๆ เช่น สนิม การกัดกร่อน และเศษอื่นๆ สามารถปนเปื้อนพื้นผิวของอุปกรณ์อุตสาหกรรมได้ สิ่งปนเปื้อนเหล่านี้ลดความสามารถของอุปกรณ์ในการทำงานอย่างเหมาะสม ส่งผลให้เกิดการหยุดทำงาน ค่าซ่อมแซม และความเสื่อมโทรมของฟังก์ชันการทำงาน

การทดสอบการปนเปื้อนของไอออนิกจะตรวจจับไอออนิกที่ตกค้างจากกระบวนการผลิตและการบัดกรี และมักเป็นข้อกำหนดในการรับรองความสะอาดของไอออนิกก่อนที่จะใช้การเคลือบคอนฟอร์เมอร์กับแผงวงจรพิมพ์

วิธีการทดสอบการปนเปื้อนด้วยไอออนิกถือเป็นเครื่องมือควบคุมคุณภาพและกระบวนการที่สำคัญ มาตรฐานสากลระบุว่าควรทำความสะอาดส่วนประกอบให้มีโซเดียมคลอไรด์สูงสุดเทียบเท่ากับ 1,5 µg/cm2

ในบรรดาการศึกษาด้านการทดสอบ การวัด การวิเคราะห์ และการประเมินผลจำนวนมากที่มีให้กับธุรกิจในภาคส่วนต่างๆ องค์กรของเรายังให้บริการการทดสอบที่กำหนดไว้ในมาตรฐาน "DELPHI DX552500 การทำความสะอาดพื้นผิวของส่วนประกอบที่เป็นโลหะ" พร้อมด้วยพนักงานที่ผ่านการฝึกอบรมและเชี่ยวชาญและอุปกรณ์เทคโนโลยีขั้นสูง

WhatsApp