เทคนิค XRF (X-ray fluorescence) เป็นเทคนิคการวิเคราะห์แบบไม่ทำลายซึ่งใช้ในการกำหนดองค์ประกอบองค์ประกอบของวัสดุ ด้วยเทคนิคนี้ เครื่องวิเคราะห์ XRF จะตื่นเต้นกับแหล่งกำเนิดรังสีเอกซ์หลัก และเคมีของตัวอย่างจะถูกกำหนดโดยการวัดการเรืองแสงของรังสีเอกซ์ที่ปล่อยออกมาจากตัวอย่าง องค์ประกอบแต่ละอย่างที่มีอยู่ในตัวอย่างจะทำให้เกิดชุดของการเรืองแสงเอ็กซ์เรย์ที่มีลักษณะเฉพาะซึ่งมีลักษณะเฉพาะสำหรับองค์ประกอบเฉพาะนั้น ดังนั้น XRF spectroscopy จึงเป็นที่ยอมรับว่าเป็นเทคโนโลยีที่ยอดเยี่ยมสำหรับการวิเคราะห์องค์ประกอบวัสดุในเชิงคุณภาพและเชิงปริมาณ
อะตอมส่วนใหญ่มีวงโคจรของอิเล็กตรอนหลายวง เมื่อพลังงานจากรังสีเอ็กซ์ทำให้อิเล็กตรอนเคลื่อนที่เข้าและออกจากระดับวงโคจรเหล่านี้ จะเกิดยอดพีค XRF ที่มีความเข้มต่างกันในสเปกตรัม พลังงานของยอดพีคบ่งบอกถึงธาตุ และความสูงหรือความเข้มของยอดพีคโดยทั่วไปบ่งบอกถึงความเข้มข้นของธาตุนั้น
วิธีนี้ใช้ในอุตสาหกรรมต่าง ๆ สำหรับ:
ในระหว่างการวิเคราะห์ เครื่องวิเคราะห์จะปล่อยลำแสงรังสีโดยตรงเมื่อหลอดได้รับพลังงาน ควรใช้ความพยายามอย่างสมเหตุสมผลเพื่อให้ได้รับรังสีให้ต่ำกว่าขีดจำกัดปริมาณรังสีมากที่สุด ปัจจัยสามประการที่ลดการสัมผัสรังสี ได้แก่ เวลา ระยะทาง และการป้องกัน
องค์กรของเรายังให้บริการวิเคราะห์เนื้อหาวัสดุด้วยเทคนิค XRF ด้วยเจ้าหน้าที่ที่ผ่านการฝึกอบรมและเชี่ยวชาญ และอุปกรณ์เทคโนโลยีขั้นสูง ท่ามกลางการศึกษาการทดสอบ การวัดผล การวิเคราะห์และการประเมินจำนวนมากที่มีให้สำหรับธุรกิจในภาคส่วนต่างๆ
คุณสามารถขอให้เรากรอกแบบฟอร์มของเราเพื่อรับการนัดหมายเพื่อรับข้อมูลรายละเอียดเพิ่มเติมหรือเพื่อขอการประเมินผล
