SEMI F72Augerova testovacia metóda pre elektrónovú spektroskopiu (AES) testy mokrých povrchov pasivovaných komponentov z nehrdzavejúcej ocele 316L

SEMI F72Augerova testovacia metóda pre elektrónovú spektroskopiu (AES) testy mokrých povrchov pasivovaných komponentov z nehrdzavejúcej ocele 316L

Účelom normy SEMI F72, vyvinutej v rámci programu medzinárodných noriem s názvom International Semiconductor Equipment and Materials (SEMI), je opísať testovaciu metódu na charakterizáciu povrchového zloženia komponentov z pasivovanej nehrdzavejúcej ocele 316L, ktoré sa zvažujú na inštaláciu v distribučnom systéme plynu s vysokou čistotou. . Táto testovacia metóda je navrhnutá tak, aby bola aplikovaná na mokré povrchy rúr, armatúr, ventilov a iných komponentov z nehrdzavejúcej ocele ako miera účinnosti pasivácie. Pasivačný proces je proces neutralizácie na žehličke po použití kyseliny na odstraňovanie hrdze.

SEMI F72Augerova testovacia metóda pre elektrónovú spektroskopiu (AES) testy mokrých povrchov pasivovaných komponentov z nehrdzavejúcej ocele 316L

Účelom tejto testovacej metódy je definovať všeobecný súbor parametrov a podmienok prístroja, ktoré umožnia získať reprodukovateľné merania vo vrstve pasívneho oxidu obohateného chrómom. Táto testovacia metóda bola pripravená na charakterizáciu zloženia a hrúbky chrómom obohatenej oxidovej vrstvy povrchov nehrdzavejúcej ocele a na zistenie povrchovej kontaminácie v potrubiach, armatúrach, ventiloch a iných komponentoch. Metóda zahŕňa detekciu a meranie zloženia povrchových prvkov pomocou Augerovej elektrónovej spektroskopie (AES). Táto testovacia metóda opisuje aj testovaciu metódu pre hĺbkový profil zloženia chrómu, železa, niklu, kyslíka a uhlíka siahajúci z povrchu cez vrstvy oxidu až do základného kovu. Toto meranie poskytuje informácie o hrúbke oxidu a obohatení chrómom v celej pasivovanej oblasti.

Pomocou Augerovej elektrónovej spektroskopie (AES) je vzorka bombardovaná elektrónmi s vysokou energiou a niektoré elektróny sú odstránené z cieľových atómov a atómy sú ionizované. Pretože ionizovaný atóm je nestabilný, elektrón z vonkajšieho orbitálu vyplní elektrónové voľné miesto vo vnútornom orbitále. Táto metóda je veľmi výkonná technika analýzy obrazu.

Pri príprave tohto štandardu sa ako referencia použili nasledujúce štandardy SEMI:

  • Špecifikácia pre SEMI C57 Argon
  • Špecifikácia pre dusík SEMI C59

Naša organizácia, medzi početnými testovacími, meracími, analytickými a hodnotiacimi štúdiami, ktoré poskytla pre podniky v rôznych sektoroch, so svojim vyškoleným a odborným personálom a pokročilým technologickým vybavením, testovacia metóda pre Augerovu elektrónovú spektroskopiu (AES) v rámci SEMI. Norma F72 je metóda testovania oxidov mokrých povrchov pasivovaných komponentov z nehrdzavejúcej ocele 316L. Poskytuje tiež testovacie služby na hodnotenie vrstvy.

WhatsApp