
Piawaian ASTM C1549, “Kaedah ujian piawai untuk menentukan pemantulan suria suhu ambien berhampiran menggunakan reflektometer suria mudah alih,” yang dibangunkan oleh Persatuan Pengujian dan Bahan Amerika (ASTM), menerangkan kaedah ujian untuk menentukan pemantulan suria bahan legap rata di makmal atau di lapangan menggunakan reflektometer suria mudah alih komersial. Tujuan kaedah ini adalah untuk mendapatkan data pemantulan suria yang diperlukan untuk menilai suhu dan aliran haba pada permukaan yang terdedah kepada sinaran suria.

Kaedah ujian ini tidak menggantikan kaedah ujian standard ASTM E903, yang mengukur pantulan suria dalam julat panjang gelombang 250 nm hingga 2500 nm menggunakan sfera bersepadu. Reflektometer suria mudah alih dikalibrasi menggunakan sampel dengan sifat pantulan suria yang diketahui untuk menentukan pantulan suria daripada pengukuran pada empat panjang gelombang dalam spektrum suria (380 nm, 500 nm, 650 nm, dan 1220 nm). Teknik ini disokong dengan membandingkan ukuran reflektometer dengan yang diperoleh menggunakan kaedah ujian standard ASTM E903. Kaedah ujian ini boleh digunakan untuk sampel bahan dengan kedua-dua sifat optik spekular dan meresap. Ia amat sesuai untuk mengukur pantulan suria bahan legap.
Suhu permukaan legap yang terdedah kepada cahaya matahari biasanya lebih tinggi daripada suhu udara di sekelilingnya. Bagi bumbung atau dinding yang mengelilingi kawasan berhawa dingin, aliran haba ke dalam meningkat. Begitu juga, bagi peralatan atau bekas simpanan yang terdedah kepada cahaya matahari, suhu operasi biasanya meningkat. Sejauh mana cahaya matahari mempengaruhi suhu permukaan bergantung pada pekali pantulan suria (SRC) permukaan yang terdedah. SRC 1,0 (pantulan 100%) tidak memberi kesan pada suhu permukaan, manakala SRC 0 (tiada pantulan, penyerapan lengkap) memberikan kesan maksimum. Salutan dengan SRC tertentu digunakan untuk mengubah suhu permukaan yang terdedah kepada cahaya matahari. Salutan dan rawatan permukaan biasanya dinyatakan dari segi SRC mereka. Untuk mencapai prestasi haba yang dijangkakan, SRC awal (jernih) mesti dikekalkan sepanjang hayat salutan atau rawatan.
Kaedah ujian ini menyediakan alat untuk menguji permukaan secara berkala di lapangan atau makmal. Dengan kaedah ini, perubahan dalam pemantulan suria yang disebabkan oleh penuaan dan pendedahan, atau kedua-duanya, dipantau. Kaedah ujian ini digunakan untuk mengukur pemantulan suria permukaan yang rata dan legap. Ketepatan purata beberapa ukuran secara amnya bergantung pada kebolehubahan pemantulan pada permukaan yang diuji.
Pendek kata, piawaian ASTM C1549 menyediakan kaedah praktikal untuk menilai berapa banyak sinaran suria yang dipantulkan oleh permukaan menggunakan reflektor suria mudah alih, menjadikannya sesuai untuk pengukuran makmal dan lapangan.
Pemantulan suria merupakan salah satu sifat terma yang paling penting bagi bahan bumbung, dinding luar, turapan dan produk bangunan lain yang terdedah kepada cahaya matahari. Bahan dengan pemantulan suria yang tinggi menyerap kurang tenaga suria, yang membantu menurunkan suhu permukaan dan meningkatkan kecekapan tenaga.
Matlamat utama piawaian ASTM C1549 adalah untuk menyediakan kaedah piawai untuk mengukur pantulan suria bahan legap menggunakan peralatan mudah alih. Objektif piawaian ini adalah:
Pemantulan suria ialah jumlah tenaga suria yang masuk yang dipantulkan oleh permukaan. Pemantulan suria dinyatakan sebagai julat nilai:
Contohnya, kadar pantulan suria bagi sesetengah bahan adalah seperti berikut:
Pemantulan suria yang lebih tinggi secara amnya membawa kepada perkara berikut:
Piawaian ASTM C1549 digunakan untuk:
Kaedah ini boleh diaplikasikan di lokasi berikut:
Pada prinsipnya, kaedah ujian piawai ASTM C1549 menggunakan reflektometer solar mudah alih. Peranti ini,
Sebuah reflektometer mengukur pada empat panjang gelombang yang mewakili spektrum suria:
Pengukuran ini digabungkan untuk menganggarkan jumlah pantulan suria bahan tersebut.
Peralatan asas yang digunakan dalam ujian termasuk:
Penentukuran adalah penting sebelum pengujian untuk mendapatkan hasil yang tepat dan boleh diulang.
Secara amnya, proses pengujian mengikuti langkah-langkah berikut:
Oleh kerana variasi permukaan semula jadi boleh menjejaskan keputusan, bacaan berganda adalah disyorkan.
Piawaian ASTM C1549 digunakan secara meluas dalam bidang berikut:
Piawaian ASTM C1549 digunakan secara meluas oleh:
Piawaian ASTM C1549 sering digunakan bersama-sama dengan piawaian pelengkap berikut:
Selama bertahun-tahun, organisasi kami, dengan pasukannya yang cekap dan berpengalaman, telah memahami keperluan pelanggannya, menyediakan perkhidmatan ujian lanjutan yang mereka perlukan, dan membantu mereka dalam penubuhan, pelaksanaan dan penambahbaikan sistem pengurusan. Dalam rangka kerja ini, kami juga menyediakan perkhidmatan ujian mengikut piawaian ASTM C1549.
