
Piawaian “JIS K 6262 Getah, tervulkan atau termoplastik – Penentuan set mampatan pada suhu ambien, tinggi atau rendah” yang dibangunkan oleh organisasi Piawaian Perindustrian Jepun (JIS) menerangkan kaedah untuk menentukan set mampatan getah tervulkan dan termoplastik pada ambien, tinggi. atau suhu rendah.

Pada asasnya, piawaian ini adalah berdasarkan dua piawaian berikut yang dibangunkan oleh Pertubuhan Piawaian Antarabangsa (ISO):
Piawaian ISO 815 menerangkan kaedah untuk menentukan sifat set mampatan getah tervulkan dan termoplastik pada suhu ambien atau tinggi (bergantung pada cara bahagian ujian dilepaskan pada akhir ujian). Kaedah ini bertujuan untuk mengukur keupayaan getah dengan kekerasan dalam julat 10 IRHD hingga 95 IRHD untuk mengekalkan sifat keanjalannya pada suhu tertentu selepas mampatan berpanjangan pada terikan malar (biasanya 25 peratus) dalam salah satu set keadaan alternatif yang diterangkan. Untuk getah dengan kekerasan nominal 80 IRHD dan ke atas, tegasan mampatan yang lebih rendah digunakan (80 peratus untuk kekerasan nominal 89 IRHD hingga 15 IRHD dan 90 peratus untuk kekerasan nominal 95 IRHD hingga 10 IRHD).
Semasa menjalankan ujian, sekeping ujian dengan ketebalan yang diketahui dimampatkan kepada ketegangan yang ditetapkan pada suhu makmal standard dan kemudian dipegang pegun untuk tempoh masa tertentu pada suhu makmal standard atau suhu tinggi yang malar. Mampatan dilepaskan dan selepas bahagian ujian dibenarkan pulih untuk tempoh masa pada suhu makmal standard atau suhu tinggi, ketebalan kepingan ujian diukur semula.
Dalam piawaian ISO 815, dua kaedah diterangkan untuk menentukan sifat set mampatan getah tervulkan dan termoplastik pada suhu rendah. Kaedah 1 diperoleh daripada metodologi yang digunakan dalam piawaian ISO 815-1. Kaedah 2 menggunakan peranti ujian khusus yang membolehkan ketebalan kepingan ujian diukur dan direkodkan semasa pemulihan. Disebabkan oleh beban yang dikenakan semasa pemulihan dalam kaedah 2, korelasi tidak boleh diwujudkan antara keputusan yang diberikan oleh kedua-dua kaedah.
Apabila menggunakan kaedah 1, sekeping ujian dengan ketebalan yang diketahui dimampatkan kepada regangan yang ditentukan pada suhu makmal standard dan kemudian dipegang pegun untuk tempoh masa tertentu pada suhu rendah malar. Selepas mampatan dilepaskan sepenuhnya dan bahagian ujian dibenarkan pulih dengan bebas pada suhu rendah malar yang sama, ketebalan kepingan ujian diukur semula.
Apabila menggunakan kaedah 2, sekeping ujian dengan ketebalan yang diketahui dimampatkan kepada terikan yang ditentukan pada suhu makmal standard dan kemudian dipegang pegun untuk tempoh masa tertentu pada suhu rendah malar. Mampatan dilepaskan dan bahagian ujian dibenarkan pulih pada suhu ini di bawah tekanan tertentu mengikut piawaian ISO 23529 untuk pengukuran ketebalan. Ketebalan diukur pada selang waktu selepas pelepasan terikan (supaya penilaian sifat set mampatan boleh diperolehi dengan memplot terikan terhadap masa pada suhu rendah) atau pada masa tertentu selepas pelepasan terikan.
