
Teknik XRF (X-ray fluorescence) ialah teknik analisis tidak merosakkan yang digunakan untuk menentukan komposisi unsur bahan. Dengan teknik ini, penganalisis XRF teruja dengan sumber sinar-X utama dan kimia sampel ditentukan dengan mengukur pendarfluor sinar-X yang dipancarkan daripada sampel. Setiap unsur yang terdapat dalam sampel menghasilkan satu set ciri pendarfluor sinar-X yang unik kepada unsur tertentu itu. Oleh itu, spektroskopi XRF diiktiraf sebagai teknologi yang sangat baik untuk analisis kualitatif dan kuantitatif komposisi bahan.

Kebanyakan atom mempunyai beberapa orbit elektron. Apabila tenaga sinar-X menyebabkan elektron bergerak masuk dan keluar dari aras orbit ini, puncak XRF dengan keamatan yang berbeza-beza terhasil dalam spektrum. Tenaga puncak mengenal pasti unsur tersebut, dan ketinggian atau keamatan puncak secara amnya menunjukkan kepekatannya.
Kaedah ini digunakan dalam pelbagai industri untuk:
Semasa analisis, penganalisis memancarkan pancaran sinaran terarah apabila tiub ditenagakan. Usaha yang munasabah harus dilakukan untuk memastikan pendedahan radiasi berada di bawah had dos yang mungkin. Tiga faktor yang meminimumkan pendedahan sinaran ialah: masa, jarak dan perlindungan.
Organisasi kami juga menyediakan perkhidmatan analisis kandungan bahan dengan teknik XRF, dengan kakitangan terlatih dan pakar serta peralatan teknologi termaju, antara pelbagai ujian, pengukuran, analisis dan kajian penilaian yang disediakannya untuk perniagaan dalam pelbagai sektor.
