
A técnica de XRF (fluorescência de raios X) é uma técnica analítica não destrutiva usada para determinar a composição elementar de materiais. Com esta técnica, os analisadores de XRF são excitados por uma fonte primária de raios X e a química de uma amostra é determinada pela medição da fluorescência de raios X emitida por uma amostra. Cada um dos elementos presentes em uma amostra produz um conjunto de fluorescência de raios X característica que é exclusiva daquele elemento específico. Portanto, a espectroscopia XRF é reconhecida como uma excelente tecnologia para análise qualitativa e quantitativa da composição do material.

A maioria dos átomos possui várias órbitas eletrônicas. Quando a energia dos raios X faz com que os elétrons se movam para dentro e para fora desses níveis orbitais, picos de fluorescência de raios X (XRF) de intensidades variáveis são criados no espectro. A energia do pico identifica o elemento, e a altura ou intensidade do pico geralmente indica sua concentração.
Este método é usado em várias indústrias para:
Durante a análise, o analisador emite um feixe de radiação direcionado quando o tubo é energizado. Esforços razoáveis devem ser feitos para manter a exposição à radiação tão abaixo dos limites de dose quanto possível. Três fatores que minimizam a exposição à radiação são: tempo, distância e proteção.
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