
XRF(X射線熒光)技術是一種用於確定材料元素組成的非破壞性分析技術。 使用這種技術,XRF 分析儀由初級 X 射線源激發,並通過測量樣品發射的 X 射線熒光來確定樣品的化學成分。 樣品中存在的每種元素都會產生一組特定元素獨有的特徵 X 射線熒光。 因此,XRF 光譜被公認為是一種對材料成分進行定性和定量分析的優秀技術。

大多數原子都有多個電子軌道。當X射線能量使電子在這些軌道能階間躍遷時,會在X射線螢光光譜中產生強度各異的峰。峰的能量可以辨識元素,而峰的高度或強度通常指示其濃度。
該方法用於各種行業:
在分析過程中,當管子通電時,分析儀會發出定向輻射束。 應作出合理努力,使輻射暴露盡可能低於劑量限值。 減少輻射暴露的三個因素是:時間、距離和防護。
我們的組織還通過 XRF 技術提供材料含量分析服務,其訓練有素的專家人員和先進的技術設備,在它為各個行業的企業提供的眾多測試、測量、分析和評估研究中。
