
تکنیک XRF (فلورسانس اشعه ایکس) یک تکنیک تحلیلی غیر مخرب است که برای تعیین ترکیب عنصری مواد استفاده می شود. با این تکنیک، آنالایزرهای XRF توسط یک منبع اشعه ایکس اولیه برانگیخته می شوند و شیمی نمونه با اندازه گیری فلورسانس اشعه ایکس ساطع شده از یک نمونه تعیین می شود. هر یک از عناصر موجود در یک نمونه مجموعهای از فلورسانس پرتو ایکس را تولید میکند که منحصر به آن عنصر خاص است. بنابراین، طیفسنجی XRF به عنوان یک فناوری عالی برای تجزیه و تحلیل کمی و کیفی ترکیب مواد شناخته میشود.

بیشتر اتمها چندین مدار الکترونی دارند. هنگامی که انرژی اشعه ایکس باعث حرکت الکترونها به داخل و خارج از این سطوح مداری میشود، پیکهای XRF با شدتهای مختلف در طیف ایجاد میشوند. انرژی پیک، عنصر را مشخص میکند و ارتفاع یا شدت پیک عموماً نشاندهنده غلظت آن است.
از این روش در صنایع مختلف برای موارد زیر استفاده می شود:
در طول تجزیه و تحلیل، هنگامی که لوله انرژی می گیرد، آنالایزر یک پرتو مستقیم از تابش ساطع می کند. باید تلاش های منطقی برای حفظ قرار گرفتن در معرض تشعشع تا حد امکان کمتر از حد مجاز دوز انجام شود. سه عاملی که قرار گرفتن در معرض تابش را به حداقل می رساند عبارتند از: زمان، مسافت و حفاظت.
سازمان ما همچنین خدمات تجزیه و تحلیل محتوای مواد را با تکنیک XRF، با کارکنان آموزش دیده و متخصص و تجهیزات پیشرفته تکنولوژیکی، از جمله مطالعات تست، اندازه گیری، تجزیه و تحلیل و ارزیابی متعددی که برای مشاغل در بخش های مختلف ارائه می دهد، ارائه می دهد.
