
Стандарт SEMI F104, разработанный в рамках программы международных стандартов под названием International Semiconductor Equipment and Materials (SEMI), описывает требования и представляет методы испытаний для оценки и сравнения компонентов в потоке сверхчистой воды с точки зрения доли частиц. Этот стандарт определяет два метода испытаний для оценки доли частиц: метод ополаскивания и метод динамического испытания.

Оба метода испытаний применяются к жидким химическим компонентам и компонентам систем сверхчистой воды, предназначенным для использования в инструментах и вспомогательном оборудовании для производства полупроводников.
Методы испытаний, описанные в этом стандарте, представляют собой испытания для измерения доли твердых частиц в компонентах при использовании сверхчистой воды в качестве испытательной среды. Для целей настоящего стандарта сверхчистая вода должна соответствовать минимальным требованиям, изложенным в стандарте. При применении этих методов испытаний для измерения характеристик используется оптический прибор для измерения жидких частиц. Это устройство обычно используется в качестве счетчика частиц для обнаружения и контроля загрязнения твердыми частицами в определенных чистых средах, включая воздух, воду и химические вещества. Счетчики частиц используются в промышленных технологиях, таких как электронные компоненты и узлы, фармацевтические препараты и медицинские устройства, а также нефть и газ для поддержки более экологически чистых производств.
При подготовке этого стандарта в качестве справочных использовались следующие стандарты SEMI:
Среди многочисленных тестов, измерений, анализов и оценок, которые наша организация предоставляет предприятиям в различных секторах, мы также предлагаем услуги по тестированию содержания частиц в компонентах, используемых в системах дозирования сверхчистой воды и жидких химических веществ в соответствии со стандартом SEMI F104, используя квалифицированный и опытный персонал и современное технологическое оборудование.
