
Метод XRF (рентгенофлуоресцентный) — это неразрушающий аналитический метод, используемый для определения элементного состава материалов. С помощью этого метода анализаторы XRF возбуждаются первичным источником рентгеновского излучения, а химический состав образца определяется путем измерения рентгеновской флуоресценции, испускаемой образцом. Каждый из элементов, присутствующих в образце, производит набор характерных рентгеновских флуоресценций, которые являются уникальными для этого конкретного элемента. Таким образом, РФ-спектроскопия признана отличной технологией для качественного и количественного анализа состава материалов.

Большинство атомов имеют несколько электронных орбит. Когда энергия рентгеновского излучения заставляет электроны перемещаться между этими орбитальными уровнями, в спектре рентгенофлуоресцентного анализа (XRF) образуются пики различной интенсивности. Энергия пика определяет элемент, а высота или интенсивность пика, как правило, указывает на его концентрацию.
Этот метод используется в различных отраслях промышленности для:
Во время анализа анализатор испускает направленный пучок излучения, когда трубка находится под напряжением. Следует предпринимать разумные усилия для того, чтобы удерживать радиационное облучение как можно ниже пределов дозы. Три фактора, которые сводят к минимуму радиационное облучение: время, расстояние и защита.
Наша организация также предоставляет услуги по анализу содержания материалов с помощью метода XRF, с ее обученным и опытным персоналом и передовым технологическим оборудованием, среди многочисленных испытаний, измерений, анализа и оценки, которые она предоставляет для предприятий в различных секторах.
