
La technique XRF (fluorescence des rayons X) est une technique analytique non destructive utilisée pour déterminer la composition élémentaire des matériaux. Avec cette technique, les analyseurs XRF sont excités par une source primaire de rayons X et la chimie d'un échantillon est déterminée en mesurant la fluorescence X émise par un échantillon. Chacun des éléments présents dans un échantillon produit un ensemble de fluorescence X caractéristique qui est unique à cet élément spécifique. Par conséquent, la spectroscopie XRF est reconnue comme une excellente technologie pour l'analyse qualitative et quantitative de la composition des matériaux.

La plupart des atomes possèdent plusieurs orbites électroniques. Lorsque l'énergie des rayons X provoque le déplacement des électrons entre ces niveaux orbitaux, des pics XRF d'intensités variables apparaissent dans le spectre. L'énergie du pic permet d'identifier l'élément, et sa hauteur ou intensité est généralement indicative de sa concentration.
Cette méthode est utilisée dans diverses industries pour :
Pendant l'analyse, l'analyseur émet un faisceau de rayonnement dirigé lorsque le tube est sous tension. Des efforts raisonnables doivent être faits pour maintenir l'exposition aux rayonnements aussi loin que possible en dessous des limites de dose. Trois facteurs minimisent l'exposition aux rayonnements : le temps, la distance et la protection.
Notre organisation fournit également des services d'analyse de contenu matériel avec la technique XRF, avec son personnel formé et expert et ses équipements technologiques de pointe, parmi les nombreuses études de test, de mesure, d'analyse et d'évaluation qu'elle fournit aux entreprises de divers secteurs.
