La técnica XRF (fluorescencia de rayos X) es una técnica analítica no destructiva utilizada para determinar la composición elemental de los materiales. Con esta técnica, los analizadores XRF son excitados por una fuente primaria de rayos X y la química de una muestra se determina midiendo la fluorescencia de rayos X emitida por una muestra. Cada uno de los elementos presentes en una muestra produce un conjunto de fluorescencia de rayos X característica que es única para ese elemento específico. Por lo tanto, la espectroscopia XRF es reconocida como una excelente tecnología para el análisis cualitativo y cuantitativo de la composición de materiales.
La mayoría de los átomos poseen varias órbitas electrónicas. Cuando la energía de los rayos X provoca que los electrones entren y salgan de estos niveles orbitales, se generan picos de fluorescencia de rayos X (XRF) de intensidad variable en el espectro. La energía del pico identifica el elemento, y su altura o intensidad suele indicar su concentración.
Este método se utiliza en diversas industrias para:
Durante el análisis, el analizador emite un haz de radiación dirigido cuando el tubo está energizado. Deben realizarse esfuerzos razonables para mantener la exposición a la radiación lo más bajo posible de los límites de dosis. Tres factores que minimizan la exposición a la radiación son: el tiempo, la distancia y la protección.
Nuestra organización también brinda servicios de análisis de contenido de materiales con la técnica XRF, con su personal capacitado y experto y equipos tecnológicos avanzados, entre los numerosos estudios de prueba, medición, análisis y evaluación que brinda a las empresas de diversos sectores.
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