SEMI F72Auger Metoda testowa do spektroskopii elektronowej (AES) Testy mokrych powierzchni pasywowanych elementów ze stali nierdzewnej 316L

SEMI F72Auger Metoda testowa do spektroskopii elektronowej (AES) Testy mokrych powierzchni pasywowanych elementów ze stali nierdzewnej 316L

Opracowany w ramach międzynarodowego programu normalizacyjnego o nazwie International Semiconductor Equipment and Materials (SEMI), celem normy SEMI F72 jest opisanie metody badawczej do charakteryzowania składu powierzchni pasywowanych elementów ze stali nierdzewnej 316L przewidzianych do instalacji w systemie dystrybucji gazu o wysokiej czystości . Ta metoda testowa jest przeznaczona do stosowania na mokrych powierzchniach rur, złączek, zaworów i innych elementów ze stali nierdzewnej jako miara skuteczności pasywacji. Proces pasywacji to proces neutralizacji żelaza po zastosowaniu kwasu usuwającego rdzę.

SEMI F72Auger Metoda testowa do spektroskopii elektronowej (AES) Testy mokrych powierzchni pasywowanych elementów ze stali nierdzewnej 316L

Celem tej metody badawczej jest zdefiniowanie ogólnego zestawu parametrów i warunków przyrządu, które pozwolą na uzyskanie powtarzalnych pomiarów w warstwie pasywnego tlenku wzbogaconej w chrom. Niniejsza metoda badawcza została przygotowana w celu scharakteryzowania składu i grubości warstwy tlenku wzbogaconego chromem na powierzchniach ze stali nierdzewnej oraz w celu wykrycia zanieczyszczenia powierzchni rur, armatury, zaworów i innych elementów. Metoda polega na wykrywaniu i pomiarze składu pierwiastków powierzchniowych za pomocą spektroskopii elektronów Augera (AES). Niniejsza metoda badawcza opisuje również metodę badawczą profilu składu wgłębnego chromu, żelaza, niklu, tlenu i węgla rozciągającego się od powierzchni przejmowanej przez warstwy tlenkowe do metalu nieszlachetnego. Pomiar ten dostarcza informacji o grubości tlenku i wzbogaceniu chromu w całym obszarze pasywacji.

Wykorzystując spektroskopię elektronów Augera (AES), próbka jest bombardowana przez elektrony o wysokiej energii, a niektóre elektrony są usuwane z docelowych atomów, a atomy ulegają jonizacji. Ponieważ zjonizowany atom jest niestabilny, elektron z orbitalu zewnętrznego wypełnia wakat elektronu na orbicie wewnętrznej. Ta metoda jest bardzo potężną techniką analizy obrazu.

Podczas przygotowywania niniejszego standardu jako odniesienie przyjęto następujące standardy SEMI:

  • Specyfikacja dla SEMI C57 Argon
  • Specyfikacja dla azotu SEMI C59

Nasza organizacja, wśród licznych badań, pomiarów, analiz i ocen, które przeprowadziła dla firm z różnych sektorów, z wyszkolonym i doświadczonym personelem oraz zaawansowanym sprzętem technologicznym, metoda testowa dla spektroskopii elektronów Augera (AES) w zakresie SEMI Standard F72 to metoda badania tlenków na mokrych powierzchniach pasywowanych elementów ze stali nierdzewnej 316L, która świadczy również usługi testowania w celu oceny warstwy.

WhatsApp