
Technika XRF (X-ray fluorescence) to nieniszcząca technika analityczna wykorzystywana do określania składu pierwiastkowego materiałów. Dzięki tej technice analizatory XRF są wzbudzane przez główne źródło promieniowania rentgenowskiego, a chemia próbki jest określana przez pomiar fluorescencji promieniowania rentgenowskiego emitowanego z próbki. Każdy z pierwiastków obecnych w próbce wytwarza zestaw charakterystycznej fluorescencji rentgenowskiej, która jest unikalna dla tego konkretnego pierwiastka. Dlatego spektroskopia XRF jest uznawana za doskonałą technologię do jakościowej i ilościowej analizy składu materiałów.

Większość atomów ma kilka orbit elektronowych. Kiedy energia promieniowania rentgenowskiego powoduje ruch elektronów w obrębie tych poziomów orbitalnych, w widmie powstają piki XRF o różnej intensywności. Energia piku identyfikuje pierwiastek, a wysokość lub intensywność piku zazwyczaj wskazuje na jego stężenie.
Ta metoda jest stosowana w różnych gałęziach przemysłu do:
Podczas analizy analizator emituje ukierunkowaną wiązkę promieniowania, gdy rurka jest zasilana. Należy podjąć rozsądne wysiłki w celu utrzymania ekspozycji na promieniowanie jak najdalej poniżej limitów dawki. Trzy czynniki minimalizujące narażenie na promieniowanie to: czas, odległość i ochrona.
Nasza organizacja świadczy również usługi analizy zawartości materiałów techniką XRF, z wyszkoloną i ekspercką kadrą oraz zaawansowanym sprzętem technologicznym, wśród licznych badań testowych, pomiarowych, analitycznych i ewaluacyjnych, które świadczy dla firm z różnych sektorów.
